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查看全部 199 份 →A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS
A BIST (BUILT-IN SELF-TEST) STRATEGY FOR MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS
2013-12-03
139
SST ROM code SST ROM code program test ohter
SST ROM code SST ROM code program test ohter
2014-01-13
118
基于BIST的带时延故障的FPGA测试
随着超大规模集成电路的迅速发展，90纳米技术已经应用，上千万门的集成电路已经产生。一方面，芯片封装越来越小，引脚越来越密，印制电路饭的密度日益增大，芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面，芯片或功能模块内部有很多节点无法探测，对这些...
2023-10-31
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