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半导体激光二极管组件测试方法的主要内容：本标 准 参 照采用国际电工委员会(IEC)所制订的标准IEC 747-5-1984《半导体器件分立器件第 5部分:光电子器件》中的有关规定。
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法...
在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机 和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化，具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及...
摘 要: 介绍了单片机控制的半导体激光器的稳光强器,系统地阐述了其工作原理、硬件及软件设计。实验测得:在室温条件下,稳光强器6h输出光强的稳定度达到0.28%。关键词: 稳光强器;半导体激光器;单片机