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可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU,综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片...

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 兴起于上世纪80年代末,并于1990年被IEEE 标准协会接纳为IEEE1149.1标准的JTAG 技术,其产生的背景是对高密度集成电路板进行故障检测,现在已被广泛用于支持芯片测试、设备编程、混合信号测试和现场服务等领域。本文首先介绍了」TAG 接口的定义及其具体结构,对边界扫描的具体工...

📅 👤 zhaiyawei

本书中文版包括“2006-07-01”“2010-04-01”“2012-05-01”“2014-01-01 ”若干个版本,本次上传为2006版7月第一次印刷。内容简介《雷达系统导论》(第三版)共分11章,主要内容包括雷达基本原理和方程,现代雷达技术体制,动目标指示和多普勒雷达技术,跟踪雷...

📅 👤 ttalli

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