📚 IC测试技术资料

📦 资源总数:14402
💻 源代码:29616
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块,IC测试就是集成电路的测试,就是。如果存在无缺陷的产品的话,集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷,因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体,因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。

🔥 IC测试热门资料

查看全部14402个资源 »

仪器源码->基MSP430 OPEN/SHORT C代码,已成功用于工业自动控制 本仪器适应于各种邦定IC电路测试,针对邦定电路密集,芯片体积小不能用目检法判断,用常规仪器也难以检测的特点。我们的OPEN/SHORT专业测试仪能迅速检测邦定IC的连线是否正常,利用IC芯片本身特点对各引脚进行...

📅 👤 璇珠官人

💻 IC测试源代码

查看更多 »
📂 IC测试资料分类