基于FPGA的E1误码测试技术研究
台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试,论文研究了用于VXI总线集成测试系统的E1误码测试技术及其FPGA实现,具有重要的工程应用价值。论文首先论述了误码测试原理,给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统...
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台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试,论文研究了用于VXI总线集成测试系统的E1误码测试技术及其FPGA实现,具有重要的工程应用价值。论文首先论述了误码测试原理,给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统...
高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基...
NIOS ii 应用实验UART接口测试cycloen4e FPGA源码 fpga quartu工程文件, Quartus软件版本11.0, FPGA型号为CYCLONE4E系列中的EP4CE6E22C8,可以做为你的学习设计参考...
高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的...
频率特性测试仪(简称扫频仪)是一种测试电路频率特性的仪器,它广泛应用于无线电、电视、雷达及通信等领域,为分析和改善电路的性能提供了便利的手段。而传统的扫频仪由多个模块构成,电路复杂,体积庞大,而且在高频测量中,大量的分立元件易受温度变化和电...