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ADC采样

  • MSP430ADC采样12864显示

    自己整理的MSP430程序,已经调试通过,注释清晰模块化很强。16位AD采样,12864字符数字显示,欢迎下载,如有改进意见希望回馈。谢谢!

    标签: 12864 MSP 430 ADC

    上传时间: 2013-12-23

    上传用户:ssj927211

  • 单端10-bit SAR ADC IP核的设计

    本设计通过采用分割电容阵列对DAC进行优化,在减小了D/A转换开关消耗的能量、提高速度的基础上,实现了一款采样速度为1 MS/s的10-bit单端逐次逼近型模数转换器。使用cadence spectre 工具进行仿真,仿真结果表明,设计的D/A转换器和比较器等电路满足10-bit A/D 转换的要求,逐次逼近A/D转换器可以正常工作。

    标签: bit SAR ADC 10

    上传时间: 2013-11-21

    上传用户:chukeey

  • 14位Pipeline ADC设计的带隙电压基准源技术

    关于pineline ADC的设计文献

    标签: Pipeline ADC 带隙 电压基准源

    上传时间: 2013-11-24

    上传用户:iven

  • ADI处理器实用丛书-高速设计技术

    本书内容包括三大部分:第1 部分从运算放大器的基本概念和理论出发,重点介绍了运算放大器的原理与设计,以及在各种电子系统中的应用,包括视频应用、RF/IF 子系统(乘法器、调制器和混频器)等;第2 部分主要介绍了高速采样和高速ADC 及其应用、高速DAC 及其应用、以及DDS 系统与接收机子系统等;第3 部分介绍了有关高速硬件设计技术,如仿真、建模、原型、布局、去藕与接地,以及EMI 与RFI设计考虑等。   书中内容既有完整的理论分析,又有具体的实际应用电路,还包括许多应用技巧。特别适合电子电路与系统设计工程师、高等院校相关专业师生阅读。

    标签: ADI 处理器 高速设计

    上传时间: 2013-11-16

    上传用户:qitiand

  • 带有增益提高技术的高速CMOS运算放大器设计

    设计了一种用于高速ADC中的高速高增益的全差分CMOS运算放大器。主运放采用带开关电容共模反馈的折叠式共源共栅结构,利用增益提高和三支路电流基准技术实现一个可用于12~14 bit精度,100 MS/s采样频率的高速流水线(Pipelined)ADC的运放。设计基于SMIC 0.25 μm CMOS工艺,在Cadence环境下对电路进行Spectre仿真。仿真结果表明,在2.5 V单电源电压下驱动2 pF负载时,运放的直流增益可达到124 dB,单位增益带宽720 MHz,转换速率高达885 V/μs,达到0.1%的稳定精度的建立时间只需4 ns,共模抑制比153 dB。

    标签: CMOS 增益提高 运算 放大器设计

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:jiiszha

  • 8位模拟数字转换器(ADC)的设计实现

    Abstract: This design idea explains how to implement an 8-bit analog-to-digital converter (ADC), using a microcontroller

    标签: ADC 8位 模拟数字转换器 设计实现

    上传时间: 2013-10-30

    上传用户:爱死爱死

  • 时钟抖动和相位噪声对采样系统的影响

    如果明智地选择时钟,一份简单的抖动规范几乎是不够的。而重要的是,你要知道时钟噪声的带宽和频谱形状,才能在采样过程中适当地将它们考虑进去。很多系统设计师对数据转换器时钟的相位噪声和抖动要求规定得不够高,几皮秒的时钟抖动很快就转换成信号路径上的数分贝损耗。

    标签: 时钟抖动 相位噪声 采样系统

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:dreamboy36

  • 流水线ADC的行为级仿真

    行为级仿真是提高流水线(Pipeline)ADC设计效率的重要手段。建立精确的行为级模型是进行行为级仿真的关键。本文采用基于电路宏模型技术的运算放大器模型,构建了流水线ADC的行为级模型并进行仿真。为验证提出模型的精度,以一个7位流水线ADC为例,分别进行了电路级与行为级的仿真,并做了对比。结果表明这样构建的行为级模型能较好地反映实际电路的特性,同时仿真时间大大缩短。

    标签: ADC 流水线 仿真

    上传时间: 2013-10-18

    上传用户:zsjinju

  • 校准ADC内部偏移的光学微控制器DS4830

    Abstract: The DS4830 optical microcontroller's analog-to-digital converter (ADC) offset can change with temperature and gainselection. However, the DS4830 allows users to measure the ADC internal offset. The measured ADC offset is added to the ADCoffset register to nullify the offset error. This application note demonstrates the DS4830's ADC internal offset calibration in theapplication program.  

    标签: 4830 ADC DS 校准

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:萍水相逢

  • 用于图像分类的有偏特征采样方法

    为了模拟图像分类任务中待分类目标的可能分布,使特征采样点尽可能集中于目标区域,基于Yang的有偏采样算法提出了一种改进的有偏采样算法。原算法将目标基于区域特征出现的概率和显著图结合起来,计算用于特征采样的概率分布图,使用硬编码方式对区域特征进行编码,导致量化误差较大。改进的算法使用局部约束性编码代替硬编码,并且使用更为精确的后验概率计算方式以及空间金字塔框架,改善了算法性能。在PASCAL VOC 2007和2010两个数据集上进行实验,平均精度比随机选取的特征采样方法能够提高约0.5%,验证了算法的有效性。

    标签: 图像分类 特征采样

    上传时间: 2013-10-24

    上传用户:wawjj