IGBT瞬态结壳温升计算
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法...
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法...
电子设计工程 2015年2月 基于TPS40210的APD偏压温补电路设计...
用于电抗器工程设计,可计算电抗器的温升。...
变压器绕组温升试验...
基于ZigBee的货运列车轴温监测系统设计与实现...