射频方面的技术文档:天线测试手机射频特性测量解决方案及应用
上传时间： 2014-01-19
上传用户：gaojiao1999
NI技术实现的读取硬盘序列号 ChenminDiskIDTest.bat 将启动直接演示一个读取硬盘序列号的测试
标签： ChenminDiskIDTest bat 读取 硬盘
上传时间： 2016-02-28
上传用户：彭玖华
杭州恩谱公司开发部文挡摸版。包括测试、产品开发、管理、技术、售后等
上传时间： 2016-03-09
上传用户：sdq_123
The I2C-bus specification 由于大规模集成电路技术的发展，在单个芯片集成CPU以及组成一个单独工作系统所必须的ROM、RAM、I/O端口、A/D、D/A等外围电路和已经实现，这就是常说的单片机或微控制器。目前，世界上许多公司生产单片机，品种很多：包括各种字长的CPU，各种容量和品种的ROM、RAM，以及功能各异的I/O等等。但是，单片机品种规格有限，所以只能选用某种单片机再进行扩展。扩展的方法有两种：一种是并行总线，另一种是串行总线。由于串行总线连线少，结构简单，往往不用专用的母板和插座而直接用导线连接各个设备即可。因此，采用串行总线大大简化了系统硬件设计。PHILIPS公司早在十几年就前推出了I2C串行总线，它是具备多主机系统所需的包括裁决和高低速设备同步等功能的高性能串行总线。
标签： specification C-bus The 大规模
上传时间： 2013-12-28
上传用户：windwolf2000
典型潜艇水下辐射噪声空间分布特性测试与分析技术研究
上传时间： 2014-11-12
上传用户：zhyiroy
NI技术实现航空机载附件的技 术实现航空机载附件的技术实现航空机载附件的ATE测试测试测试测试
上传时间： 2016-05-17
上传用户：缥缈
现代通信越来越依靠全数字处理技术, 通信系统中的全数字调制解调意味着发射机 及接收机将全部采用数字信号处理(DSP) 算法, 从而整个通信系统就可以用DSP 芯片或超 大规模集成电路(VL S I) 器件来实现。对全数字BPSK 调制解调系统采用计算机仿真的方法 进行研究能清楚地了解通信系统中所运用的数字信号处理技术, 包括信息源、发送和接收 滤波器、内插器以及判决器等全部采用数字信号处理算法来实现。文章给出了BPSK 调制 解调系统各个模块的算法和结构, 运用MA TLAB 软件进行了仿真, 得出了各个部分的时域 和频域波形图, 系统仿真的设计方法对Q PSK、16QAM 等全数字调制解调系统的硬件实现 具有实际的指导意义。
上传时间： 2016-06-15
上传用户：qwe1234
现代通信越来越依靠全数字处理技术, 通信系统中的全数字调制解调意味着发射机 及接收机将全部采用数字信号处理(DSP) 算法, 从而整个通信系统就可以用DSP 芯片或超 大规模集成电路(VL S I) 器件来实现。对全数字BPSK 调制解调系统采用计算机仿真的方法 进行研究能清楚地了解通信系统中所运用的数字信号处理技术, 包括信息源、发送和接收 滤波器、内插器以及判决器等全部采用数字信号处理算法来实现。文章给出了BPSK 调制 解调系统各个模块的算法和结构, 运用MA TLAB 软件进行了仿真, 得出了各个部分的时域 和频域波形图, 系统仿真的设计方法对Q PSK、16QAM 等全数字调制解调系统的硬件实现 具有实际的指导意义。
上传时间： 2014-01-17
上传用户：Breathe0125
现代通信越来越依靠全数字处理技术, 通信系统中的全数字调制解调意味着发射机 及接收机将全部采用数字信号处理(DSP) 算法, 从而整个通信系统就可以用DSP 芯片或超 大规模集成电路(VL S I) 器件来实现。对全数字BPSK 调制解调系统采用计算机仿真的方法 进行研究能清楚地了解通信系统中所运用的数字信号处理技术, 包括信息源、发送和接收 滤波器、内插器以及判决器等全部采用数字信号处理算法来实现。文章给出了BPSK 调制 解调系统各个模块的算法和结构, 运用MA TLAB 软件进行了仿真, 得出了各个部分的时域 和频域波形图, 系统仿真的设计方法对Q PSK、16QAM 等全数字调制解调系统的硬件实现 具有实际的指导意义。
上传时间： 2013-12-10
上传用户：wlcaption
数字存储器和混合信号超大规模集成电路 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC（System on a chip）测试。
上传时间： 2013-11-26
上传用户：hullow
