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芯片测试

芯片测试,设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
  • st7565P,nt7534液晶控制芯片在128X64点阵下的51环境液晶驱动程序

    st7565P,nt7534液晶控制芯片在128X64点阵下的51环境液晶驱动程序,经测试通过.黄绿屏,蓝屏只须修改对比度既可.

    标签: 128X64 7565 7534 st

    上传时间: 2016-10-13

    上传用户:asdkin

  • 1332 LCD测试程序

    1332 LCD测试程序,驱动芯片SED1520

    标签: 1332 LCD 测试程序

    上传时间: 2016-10-17

    上传用户:thesk123

  • LCD1602 字符屏测试程序

    LCD1602 字符屏测试程序,驱动芯片44780

    标签: 1602 LCD 字符 测试程序

    上传时间: 2016-10-17

    上传用户:懒龙1988

  • 单片机测试开发程式

    单片机测试开发程式,IIC与单片机通信,测试芯片,往芯片寄存器写程式

    标签: 单片机 测试 程式

    上传时间: 2013-12-22

    上传用户:王小奇

  • 16v8的测试程序

    16v8的测试程序,用abel4编辑器编辑。可以直接烧录在芯片中使用。

    标签: 16v8 测试程序

    上传时间: 2013-12-18

    上传用户:TRIFCT

  • 验证是制造出功能正确的芯片的必要步骤

    验证是制造出功能正确的芯片的必要步骤,是一个证明设计思路是如何实现的过程。本书首先介绍验证的基本概念和各种工具,验证的重要性和代价,比较了不同的验证方法,以及测试和验证的区别。然后从方法学的角度探讨了验证的策略和层次,介绍了覆盖率模型和如何制定完整的验证计划。在验证的方法和技术方面,本书引入了硬件验证语言(HVL),讨论了使用行为描述进行高层次建模的方法,介绍了施加激励和监视响应的技术,以及通过使用总线功能模型把物理层次的事务抽象为更高层次的过程,并结合各种测试语言讲解了仿真管理的各个要素。本书提出了覆盖率驱动的受约束的随机事务级自检验测试平台,并围绕这种结构对其中各个部分原理及设计要素进行了系统的讨论。本书还介绍了如何编写自检验测试平台、设计基于总线功能模型的随机激励发生器。    本书适合于从事ASIC、SoC及系统设计与验证的人员阅读。

    标签: 制造 芯片

    上传时间: 2016-10-30

    上传用户:tedo811

  • 基于MSP430的CYpress USB芯片68013的开发

    基于MSP430的CYpress USB芯片68013的开发,此固件程序实现了异步的读写控制,经测试实际可用

    标签: CYpress 68013 MSP 430

    上传时间: 2016-10-30

    上传用户:caozhizhi

  • 时钟芯片DS1302的使用,用LED显示的

    时钟芯片DS1302的使用,用LED显示的,具有键盘调节功能,在Keil下测试通过

    标签: 1302 LED DS 时钟芯片

    上传时间: 2013-12-27

    上传用户:aix008

  • at45db081测试程序

    at45db081测试程序,实现单片机与该芯片的数据流通信情况;

    标签: 081 at 45 db

    上传时间: 2013-11-30

    上传用户:362279997

  • IS62LV1024测试程序

    IS62LV1024测试程序,实现该芯片的所有功能;

    标签: 1024 IS 62 LV

    上传时间: 2013-12-22

    上传用户:lx9076