芯片测试
芯片测试,设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺,因此,对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
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LTE测试难点、测试技术及方案
长期演进技术(LTE)正迅速在全球得到普及,中移动在全国启动超过20万个TD-LTE基站建设,100个重点城市将实现主城区连续覆盖,同时采购 100万TD-LTE终端。中国联通和中国电信也正在积极加大LTE试验网的建设,将从网络、业务以及终...
2026-02-14
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STM32f103非接触芯片AS3911芯片代码
基于STM32f103操作非接触芯片AS3911芯片代码,包M1卡、15693卡、ISO14443A/B CPU卡、Kovio、felica、topaz卡
2022-09-26
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用C51单片机测试模块,应用ADS1110转换芯片,扩展两片8255,32路AD通道,16k路DO,16路DI,正弦信号发生,RS232接口,(0~100MHz频率测试等功能),非常实用!
用C51单片机测试模块,应用ADS1110转换芯片,扩展两片8255,32路AD通道,16k路DO,16路DI,正弦信号发生,RS232接口,(0~100MHz频率测试等功能),非常实用!
2013-12-17
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