芯片测试

芯片测试，设计初期系统级芯片测试。SoC的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

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力芯芯片选型表提供多种型号的参数对比与功能说明，适用于嵌入式系统设计与硬件选型参考。包含封装类型、工作温度、引脚配置等关键信息，便于快速匹配项目需求。

2026-01-24 1 芯片测试

基于多站点并行测试的ACS集成测试系统，采用模块化设计，提升测试效率与稳定性。支持高并发场景下的可靠验证，适用于复杂系统集成测试需求。

2026-03-12 3 芯片测试