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自动化测试

一般是指软件测试的自动化,软件测试就是在预设条件下运行系统或应用程序,评估运行结果,预先条件应包括正常条件和异常条件。
  • 51加cpld测试程序

    51加cpld测试程序,免费分享,大家觉得好,记得留言。

    标签: cpld 测试程序

    上传时间: 2013-08-24

    上传用户:13736136189

  • 基于Samsung2410平台的PCMCIA中的DMA测试程序和Wait程序

    基于Samsung2410平台的PCMCIA中的DMA测试程序和Wait程序,还有经编译后的CPLD参数。

    标签: Samsung PCMCIA 2410 Wait

    上传时间: 2013-08-24

    上传用户:黄华强

  • ACTEL A3P StartKit FPGA开发全套文挡(含测试源码)

    ACTEL A3P StartKit FPGA开发全套文挡(含测试源码)

    标签: StartKit ACTEL FPGA A3P

    上传时间: 2013-08-28

    上传用户:litianchu

  • 控制面板程序设计-在控制面板上加一个测试组件

    控制面板程序设计-在控制面板上加一个测试组件

    标签: 控制 面板 程序设计 测试

    上传时间: 2013-09-03

    上传用户:cuibaigao

  • 该项目在Keil下工作和在PROTEUS测试成功

    该项目在Keil下工作和在PROTEUS测试成功。时钟是用微控制器和3個 2x7段LED 。

    标签: PROTEUS Keil 项目 测试成功

    上传时间: 2013-09-25

    上传用户:dave520l

  • DS18B20(已通过)测试

    DS18B20(已通过)测试,并且有Proteus仿真程序和C源代码,请新手们下载

    标签: 18B B20 DS 18

    上传时间: 2013-09-25

    上传用户:CSUSheep

  • EDA工程建模及其管理方法研究2

    EDA工程建模及其管理方法研究2 1 随着微电子技术与计算机技术的日益成熟,电子设计自动化(EDA)技术在电子产品与集成电路 (IC)芯片特别是单片集成(SoC)芯片的设计应用中显得越来越重要。EDA技术采用“自上至下”的设计思想,允许设计人员能够从系统功能级或电路功能级进行产品或芯片的设计,有利于产品在系统功能上的综合优化,从而提高了电子设计项目的协作开发效率,降低新产品的研发成本。 近十年来,EDA电路设计技术和工程管理方面的发展主要呈现出两个趋势: (1) 电路的集成水平已经进入了深亚微米的阶段,其复杂程度以每年58%的幅度迅速增加,芯片设计的抽象层次越来越高,而产品的研发时限却不断缩短。 (2) IC芯片的开发过程也日趋复杂。从前期的整体设计、功能分,到具体的逻辑综合、仿真测试,直至后期的电路封装、排版布线,都需要反复的验证和修改,单靠个人力量无法完成。IC芯片的开发已经实行多人分组协作。由此可见,如何提高设计的抽象层次,在较短时间内设计出较高性能的芯片,如何改进EDA工程管理,保证芯片在多组协作设计下的兼容性和稳定性,已经成为当前EDA工程中最受关注的问题。

    标签: EDA 工程建模 管理方法

    上传时间: 2013-11-10

    上传用户:yan2267246

  • 基于二叉树的时序电路测试序列设计

      为了实现时序电路状态验证和故障检测,需要事先设计一个输入测试序列。基于二叉树节点和树枝的特性,建立时序电路状态二叉树,按照电路二叉树节点(状态)与树枝(输入)的层次逻辑关系,可以直观和便捷地设计出时序电路测试序列。用测试序列激励待测电路,可以验证电路是否具有全部预定状态,是否能够实现预定状态转换。

    标签: 二叉树 时序电路 测试序列

    上传时间: 2013-10-19

    上传用户:qitiand

  • AN-835高速ADC测试和评估

    本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考,不能替代产品数据手册

    标签: 835 ADC AN 测试

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:zhaiye

  • 石英晶体振荡器性能参数测试系统研究

    文章介绍了石英晶体振荡器的特点及性能参数,由于人工测量繁琐,且容易出错等不足,提出了一种智能测量方法。该方法利用计算机控制技术,实现自动测试石英晶体振荡器的性能参数,并打印测试结果,减少了强度,提高了检测效率。

    标签: 石英晶体振荡器 性能 参数测试 系统研究

    上传时间: 2013-11-22

    上传用户:yy541071797