TL431应用.TL431,A、B集成电路是三端可编程并联稳压二极管。
上传时间： 2014-01-07
上传用户：84425894
摘 要： 本文件是AD测试实验；使用外部22.1184MHz晶振,将跳线器JP3短接 * 功能：开机显示"铭朗科技，WWW.MLARM.COM"信息，为待机界面。定义 A ~ F 为功能
上传时间： 2016-06-13
上传用户：ghostparker
介绍了模拟数字转换器静态和动态参数测试技术以及实现测试的硬件平台及软件 环境，采用斜波或纯正弦信号作为输入信号，用数字集成电路测试系统控制采样，并将模拟数字 转换后的数据存储，利用测试系统内的软件将存储数据进行变换，来获得模拟数字转换器的静态 参数和动态参数测试结果。该测试方法具有可编程的优点，是非常适用的测试方法。
上传时间： 2013-11-30
上传用户：gaome
bp算法实现代码,在c++ builder 平台上实现. b p算法实现代码,在c++ builder 平台上实现.
上传时间： 2014-01-22
上传用户：顶得柱
基于b/s模式的jsp在线考试系统，可以学习学习
上传时间： 2014-11-13
上传用户：royzhangsz
用于求解大型稀疏线性方程组Ax=b的数值计算库.
上传时间： 2014-01-04
上传用户：稀世之宝039
⑴ 提供简单命令 A、通过串口加载程序到指定内存 B、将程序烧写到 NANDFLASH 指定位置 C、LCD 操作函数 I、画点 II、画线 III、画圆 IV、显示图像 ⑵ bootloader 具备自我更新能力 ⑶ bootloader 可以启动 LINUX ⑷ 能通过网络传输文件（FTP/UDP）
上传时间： 2016-06-18
上传用户：牧羊人8920
实现B树，并在MFC中将其画出。 B树的表示及基本操作的实现。 1．掌握B树的存贮结构。 2．实现B树中关键字值的插入及删除操作。 3．屏幕图形化的显示。
标签： 树
上传时间： 2013-12-18
上传用户：xymbian
递归方法实现HANOI塔问题 子程序模块个数不限。要求: 盘子个数可以输入,第一个塔为A,第二个塔为B,第三个塔的名称为C。打印出移动过程。
上传时间： 2013-12-22
上传用户：小鹏
用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC 然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方 法来提高模数转换的分辨率和SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外ADC的情况下提 高测量分辨率 本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模/数转换 ADC 测量的分辨率 另 外 本文最后的附录A B和C分别给出了对ADC噪声的深入分析 最适合过采样技术的ADC噪声 类型和使用过采样和求均值技术的示例代码
上传时间： 2016-06-21
上传用户：hanli8870
