IC测试技术--设计验证
IC测试技术--设计验证,有需要的朋友可以下来看看...
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论文首先介绍了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的结构和主要特性,并对XC4000系列器件的配置模式和配置顺序做了简单介绍。根据XC4000系列器件各组成模块的功能和特点,可以将其分为可编程逻辑功能块(CLB)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、可配置接口模块(CIM)和进位...
本文从技术角度出发,围绕发展动力、检测手段和发展趋势三方面阐述了关于计量测试技术的发展问题。关键词:计量测试技术;发展;现代控制技术;传感器;网络化测量和控制...
资料->【C】嵌入系统->【C0】嵌入式综合->【2】单片机编程->【编程规范、文档模板】->软件开发文档资料大全(合集) 18册 3.3M->技术测试规范(草案).doc...
资料->【C】嵌入系统->【C0】嵌入式综合->【2】单片机编程->【编程规范、文档模板】->软件开发文档 20册 1.5M->技术测试规范(草案).zip...