高频、微波相移的计量测试
上传时间： 2013-06-06
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高频、微波相移的计量测试
上传时间： 2013-05-26
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专辑类-实用电子技术专辑-385册-3.609G 高频、微波相移的计量测试-397页-5.9M.pdf
上传时间： 2013-04-24
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专辑类-测试技术专辑-134册-1.93G 高频、微波相移的计量测试-397页-5.9M.pdf
上传时间： 2013-04-24
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文中针对某电气化铁路站点的电气电力工程中,用电工程结合计量测试技术进行了探讨,并结合电子信息技术,对计量测试技术在电气工程中的应用前景进行了剖析和展望。
上传时间： 2013-11-17
上传用户：行旅的喵
VB铁岭市计量测试所工资管理系统(带源码)工资管理系统是典型的管理信息系统，采用计算机管理企业的工资发放是当前不可缺少的一种管理手段。其开发主要包括后台数据库的建立和维护以及前端应用程序的开发两个方面。对于前者要求建立起数据一致性和完整性强，数据安全性好的数据库。而对于后者则要求应用程序功能完备，易使用等特点。 本系统着眼于工资管理制度的业务实际，经过实际的需求分析，采用功能强大的VB6.0做为开发工具、ACCESS 2000做为数据库开发出来的系统。
上传时间： 2016-01-18
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实用电子技术专辑 385册 3.609G高频、微波相移的计量测试 397页 5.9M.pdf
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上传时间： 2014-05-05
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测试技术专辑 134册 1.93G高频、微波相移的计量测试 397页 5.9M.pdf
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上传时间： 2014-05-05
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高频、微波场强与干扰的计量测试
上传时间： 2022-05-17
上传用户：XuVshu
机械工业是国民经济的装备部门，而标准化和计量测试是机械工业发展的基础和先决条件。在机械制造中，精密加工必须靠精密的测量手段来保证，加工精度的提供与计量技术的发展水平密切相关。测量与控制是促进科技发展的一个重要因素。CCD（Charge Coupled Device），电荷耦合器件，是70年代初发展起来的新型半导体器件，其设计思想是由美国贝尔实验室的Boyer与Smith于70年代提出]。二十多年来，CCD的研究取得了惊人的进展，特别是在传感器应用方面发展迅速，已成为现代光电子学与现代测试技术中最活跃、最富有成果的新兴领域之一。由于CCD具有自扫描、高分辨率、高灵敏度、重量轻、体积小、像素位置准确、耗电少、寿命长、可靠性好、信号处理方便、易于与计算机配合等优点，致使CCD光电尺寸测量的使用范围和特性比现有的机械式、光学式、电磁式量仪优越得多。特别值得注意的是CCD尺寸测量技术是一种非常有效的非接触检测方法，它使加工、检测和控制过程融为一体成为可能。利用CCD作为光敏感器件的激光三角法测量技术在非接触尺寸、位置测量中得到了广泛应用。它将激光束投射到被测物面所形成的漫反射光斑作为传感信号，用透镜成像原理将收集到的漫反射光汇集到CCD上形成像点，当入射光斑随被测物面移动时，成像点在CCD上作相应移动，根据象移大小和传感器的结构参数可以确定被测物面的位移量，若在物体两边同时测量就可以得到物体的厚度。
上传时间： 2022-06-23
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