本手册介绍HEW系统。描述HEW的基本“外观”，介绍自定义HEW环境的相关信息，并详细说明了HEW产品所共有的创建和调试功能。对初学者可参考使用，快速学会HEW的基本操作
上传时间： 2013-06-06
上传用户：xhz1993
EMC测试资料，介绍EMC基础知识，以及测试项目等
上传时间： 2013-04-24
上传用户：极客
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看.
上传时间： 2013-07-29
上传用户：fanboynet
·《DSP集成开发环境－CCS及DSP/BIOS的原理与应用》目录名 对应的例子volume1 §2.1小节中有关CCS的基本操作的例子maxminmath §2.2小节中有关工程的高级管理的例子d
上传时间： 2013-04-24
上传用户：tyler
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上传时间： 2013-07-24
上传用户：tfyt
·期刊论文：噪音环境下的语音识别研究
上传时间： 2013-06-29
上传用户：yw14205
·单片机高级语言C51 Windows环境编程与应用 徐爱钧著/电子工业出版社/518页/2003年4月出版
上传时间： 2013-04-24
上传用户：litianchu
ISE开发环境学习指南，ISE套件的介绍与安装，ISE基本功能介绍和应用
上传时间： 2013-06-11
上传用户：lingzhichao
·DTMF编解码程序(Linux环境下)
上传时间： 2013-04-24
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