热可靠性

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单粒子翻转是指数字电路的存储单元中的某一位因受到干扰而发生翻转，从而引起存储内容的变化，它是目前导致处理器运行失效的主要原因。虽然SEU不破坏任何半导体器件，但是它将导致所存储的数据出错或指令的执行错误，甚至引起系统的崩溃。随着数字电路的集...

2023-06-12 3 热可靠性

摘要：1-Wire协议最初是针对近距离连接的相邻器件之间的通信设计的，它也提供了一个在微处理器的单个端口增加辅助存储器的灵活方案。这种方案随后得到了不断的发展和完善，将1-Wire协议扩展到电路板范围

2024-04-08 10 热可靠性