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提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...

📅 👤 alan-ee

检测系统的基本特性 2.1 检测系统的静态特性及指标2.1.1检测系统的静态特性 一、静态测量和静态特性静态测量:测量过程中被测量保持恒定不变(即dx/dt=0系统处于稳定状态)时的测量。静态特性(标度特性):在静态测量中,检测系统的输出-输入特性。   &n...

📅 👤 yy_cn

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