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时钟<b>频率</b>

  • 模拟信号发生频率计方法

     计算方法: 1) A值(相位)的计算:根据设置的相位值D(单位为度,0度-360度可设置),由公式A=D/360,得出A值,按四舍五入的方法得出相位A的最终值; 2) B偏移量值的计算:按B=512*(1/2VPP-VDC+20)/5; 3) C峰峰值的计算:按C=VPP/20V*4095;

    标签: 模拟信号 发生 频率计

    上传时间: 2013-11-18

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  • 时钟应用中的直接数字频率合成器

    直接数字式频率合成器(DDS)—DDS同DSP(数字信号处理)一样,也是一项关键的数字化技术。与传统的频率合成器相比,DDS具有低成本、低功耗、高分辨率和快速转换时间等优点。

    标签: 时钟 数字频率合成器

    上传时间: 2013-10-21

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  • 时钟分相技术应用

    摘要: 介绍了时钟分相技术并讨论了时钟分相技术在高速数字电路设计中的作用。 关键词: 时钟分相技术; 应用 中图分类号: TN 79  文献标识码:A   文章编号: 025820934 (2000) 0620437203 时钟是高速数字电路设计的关键技术之一, 系统时钟的性能好坏, 直接影响了整个电路的 性能。尤其现代电子系统对性能的越来越高的要求, 迫使我们集中更多的注意力在更高频率、 更高精度的时钟设计上面。但随着系统时钟频率的升高。我们的系统设计将面临一系列的问 题。 1) 时钟的快速电平切换将给电路带来的串扰(Crosstalk) 和其他的噪声。 2) 高速的时钟对电路板的设计提出了更高的要求: 我们应引入传输线(T ransm ission L ine) 模型, 并在信号的匹配上有更多的考虑。 3) 在系统时钟高于100MHz 的情况下, 应使用高速芯片来达到所需的速度, 如ECL 芯 片, 但这种芯片一般功耗很大, 再加上匹配电阻增加的功耗, 使整个系统所需要的电流增大, 发 热量增多, 对系统的稳定性和集成度有不利的影响。 4) 高频时钟相应的电磁辐射(EM I) 比较严重。 所以在高速数字系统设计中对高频时钟信号的处理应格外慎重, 尽量减少电路中高频信 号的成分, 这里介绍一种很好的解决方法, 即利用时钟分相技术, 以低频的时钟实现高频的处 理。 1 时钟分相技术 我们知道, 时钟信号的一个周期按相位来分, 可以分为360°。所谓时钟分相技术, 就是把 时钟周期的多个相位都加以利用, 以达到更高的时间分辨。在通常的设计中, 我们只用到时钟 的上升沿(0 相位) , 如果把时钟的下降沿(180°相位) 也加以利用, 系统的时间分辨能力就可以 提高一倍(如图1a 所示)。同理, 将时钟分为4 个相位(0°、90°、180°和270°) , 系统的时间分辨就 可以提高为原来的4 倍(如图1b 所示)。 以前也有人尝试过用专门的延迟线或逻辑门延时来达到时钟分相的目的。用这种方法产生的相位差不够准确, 而且引起的时间偏移(Skew ) 和抖动 (J itters) 比较大, 无法实现高精度的时间分辨。 近年来半导体技术的发展, 使高质量的分相功能在一 片芯片内实现成为可能, 如AMCC 公司的S4405, CY2 PRESS 公司的CY9901 和CY9911, 都是性能优异的时钟 芯片。这些芯片的出现, 大大促进了时钟分相技术在实际电 路中的应用。我们在这方面作了一些尝试性的工作: 要获得 良好的时间性能, 必须确保分相时钟的Skew 和J itters 都 比较小。因此在我们的设计中, 通常用一个低频、高精度的 晶体作为时钟源, 将这个低频时钟通过一个锁相环(PLL ) , 获得一个较高频率的、比较纯净的时钟, 对这个时钟进行分相, 就可获得高稳定、低抖动的分 相时钟。 这部分电路在实际运用中获得了很好的效果。下面以应用的实例加以说明。2 应用实例 2. 1 应用在接入网中 在通讯系统中, 由于要减少传输 上的硬件开销, 一般以串行模式传输 图3 时钟分为4 个相位 数据, 与其同步的时钟信号并不传输。 但本地接收到数据时, 为了准确地获取 数据, 必须得到数据时钟, 即要获取与数 据同步的时钟信号。在接入网中, 数据传 输的结构如图2 所示。 数据以68MBös 的速率传输, 即每 个bit 占有14. 7ns 的宽度, 在每个数据 帧的开头有一个用于同步检测的头部信息。我们要找到与它同步性好的时钟信号, 一般时间 分辨应该达到1ö4 的时钟周期。即14. 7ö 4≈ 3. 7ns, 这就是说, 系统时钟频率应在300MHz 以 上, 在这种频率下, 我们必须使用ECL inp s 芯片(ECL inp s 是ECL 芯片系列中速度最快的, 其 典型门延迟为340p s) , 如前所述, 这样对整个系统设计带来很多的困扰。 我们在这里使用锁相环和时钟分相技术, 将一个16MHz 晶振作为时钟源, 经过锁相环 89429 升频得到68MHz 的时钟, 再经过分相芯片AMCCS4405 分成4 个相位, 如图3 所示。 我们只要从4 个相位的68MHz 时钟中选择出与数据同步性最好的一个。选择的依据是: 在每个数据帧的头部(HEAD) 都有一个8bit 的KWD (KeyWord) (如图1 所示) , 我们分别用 这4 个相位的时钟去锁存数据, 如果经某个时钟锁存后的数据在这个指定位置最先检测出这 个KWD, 就认为下一相位的时钟与数据的同步性最好(相关)。 根据这个判别原理, 我们设计了图4 所示的时钟分相选择电路。 在板上通过锁相环89429 和分相芯片S4405 获得我们所要的68MHz 4 相时钟: 用这4 个 时钟分别将输入数据进行移位, 将移位的数据与KWD 作比较, 若至少有7bit 符合, 则认为检 出了KWD。将4 路相关器的结果经过优先判选控制逻辑, 即可输出同步性最好的时钟。这里, 我们运用AMCC 公司生产的 S4405 芯片, 对68MHz 的时钟进行了4 分 相, 成功地实现了同步时钟的获取, 这部分 电路目前已实际地应用在某通讯系统的接 入网中。 2. 2 高速数据采集系统中的应用 高速、高精度的模拟- 数字变换 (ADC) 一直是高速数据采集系统的关键部 分。高速的ADC 价格昂贵, 而且系统设计 难度很高。以前就有人考虑使用多个低速 图5 分相技术应用于采集系统 ADC 和时钟分相, 用以替代高速的ADC, 但由 于时钟分相电路产生的相位不准确, 时钟的 J itters 和Skew 比较大(如前述) , 容易产生较 大的孔径晃动(Aperture J itters) , 无法达到很 好的时间分辨。 现在使用时钟分相芯片, 我们可以把分相 技术应用在高速数据采集系统中: 以4 分相后 图6 分相技术提高系统的数据采集率 的80MHz 采样时钟分别作为ADC 的 转换时钟, 对模拟信号进行采样, 如图5 所示。 在每一采集通道中, 输入信号经过 缓冲、调理, 送入ADC 进行模数转换, 采集到的数据写入存储器(M EM )。各个 采集通道采集的是同一信号, 不过采样 点依次相差90°相位。通过存储器中的数 据重组, 可以使系统时钟为80MHz 的采 集系统达到320MHz 数据采集率(如图6 所示)。 3 总结 灵活地运用时钟分相技术, 可以有效地用低频时钟实现相当于高频时钟的时间性能, 并 避免了高速数字电路设计中一些问题, 降低了系统设计的难度。

    标签: 时钟 分相 技术应用

    上传时间: 2013-12-17

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  • 高速PCB设计中的反射研究

      在高速数字电路飞速发展的今天,信号的频率不断提高, 信号完整性设计在P C B设计中显得日益重要。其中由于传输线效应所引起的信号反射问题是信号完整性的一个重要方面。本文研究分析了高速PCB 设计中的反射问题的产生原因,并利用HyperLynx 软件进行了仿真,最后提出了相应的解决方法。

    标签: PCB 反射

    上传时间: 2013-10-16

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  • 磁芯电感器的谐波失真分析

    磁芯电感器的谐波失真分析 摘  要:简述了改进铁氧体软磁材料比损耗系数和磁滞常数ηB,从而降低总谐波失真THD的历史过程,分析了诸多因数对谐波测量的影响,提出了磁心性能的调控方向。 关键词:比损耗系数, 磁滞常数ηB ,直流偏置特性DC-Bias,总谐波失真THD  Analysis on THD of the fer rite co res u se d i n i nductancShi Yan Nanjing Finemag Technology Co. Ltd., Nanjing 210033   Abstract:    Histrory of decreasing THD by improving the ratio loss coefficient and hysteresis constant of soft magnetic ferrite is briefly narrated. The effect of many factors which affect the harmonic wave testing is analysed. The way of improving the performance of ferrite cores is put forward.  Key words: ratio loss coefficient,hysteresis constant,DC-Bias,THD  近年来,变压器生产厂家和软磁铁氧体生产厂家,在电感器和变压器产品的总谐波失真指标控制上,进行了深入的探讨和广泛的合作,逐步弄清了一些似是而非的问题。从工艺技术上采取了不少有效措施,促进了质量问题的迅速解决。本文将就此热门话题作一些粗浅探讨。  一、 历史回顾 总谐波失真(Total harmonic distortion) ,简称THD,并不是什么新的概念,早在几十年前的载波通信技术中就已有严格要求<1>。1978年邮电部公布的标准YD/Z17-78“载波用铁氧体罐形磁心”中,规定了高μQ材料制作的无中心柱配对罐形磁心详细的测试电路和方法。如图一电路所示,利用LC组成的150KHz低通滤波器在高电平输入的情况下测量磁心产生的非线性失真。这种相对比较的实用方法,专用于无中心柱配对罐形磁心的谐波衰耗测试。 这种磁心主要用于载波电报、电话设备的遥测振荡器和线路放大器系统,其非线性失真有很严格的要求。  图中  ZD   —— QF867 型阻容式载频振荡器,输出阻抗 150Ω, Ld47 —— 47KHz 低通滤波器,阻抗 150Ω,阻带衰耗大于61dB,       Lg88 ——并联高低通滤波器,阻抗 150Ω,三次谐波衰耗大于61dB Ld88 ——并联高低通滤波器,阻抗 150Ω,三次谐波衰耗大于61dB FD   —— 30~50KHz 放大器, 阻抗 150Ω, 增益不小于 43 dB,三次谐波衰耗b3(0)≥91 dB, DP  —— Qp373 选频电平表,输入高阻抗, L ——被测无心罐形磁心及线圈, C  ——聚苯乙烯薄膜电容器CMO-100V-707APF±0.5%,二只。 测量时,所配用线圈应用丝包铜电磁线SQJ9×0.12(JB661-75)在直径为16.1mm的线架上绕制 120 匝, (线架为一格) , 其空心电感值为 318μH(误差1%) 被测磁心配对安装好后,先调节振荡器频率为 36.6~40KHz,  使输出电平值为+17.4 dB, 即选频表在 22′端子测得的主波电平 (P2)为+17.4 dB,然后在33′端子处测得输出的三次谐波电平(P3), 则三次谐波衰耗值为:b3(+2)= P2+S+ P3 式中:S 为放大器增益dB 从以往的资料引证, 就可以发现谐波失真的测量是一项很精细的工作,其中测量系统的高、低通滤波器,信号源和放大器本身的三次谐波衰耗控制很严,阻抗必须匹配,薄膜电容器的非线性也有相应要求。滤波器的电感全由不带任何磁介质的大空心线圈绕成,以保证本身的“洁净” ,不至于造成对磁心分选的误判。 为了满足多路通信整机的小型化和稳定性要求, 必须生产低损耗高稳定磁心。上世纪 70 年代初,1409 所和四机部、邮电部各厂,从工艺上改变了推板空气窑烧结,出窑后经真空罐冷却的落后方式,改用真空炉,并控制烧结、冷却气氛。技术上采用共沉淀法攻关试制出了μQ乘积 60 万和 100 万的低损耗高稳定材料,在此基础上,还实现了高μ7000~10000材料的突破,从而大大缩短了与国外企业的技术差异。当时正处于通信技术由FDM(频率划分调制)向PCM(脉冲编码调制) 转换时期, 日本人明石雅夫发表了μQ乘积125 万为 0.8×10 ,100KHz)的超优铁氧体材料<3>,其磁滞系数降为优铁

    标签: 磁芯 电感器 谐波失真

    上传时间: 2014-12-24

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  • 隔直旁路电容及扼流电感的取值

    这里仅讨论电容及电感值的选取。种类的选取,则需要更多的工程实践,更多的RF电路的经验,这里不再讨论。从理论上讲,隔直电容、旁路电容的容量应满足。显然,在任何角频率下,这在工程上是作不到的。电容量究竟取多大是合理的呢?图1-5(a),(b)给出了隔直电容(多数情况下,这个电容又称为耦合电容)和旁路电容的使用简化

    标签: 旁路电容 扼流 电感

    上传时间: 2013-11-12

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  • 简易负离子发生器的制作

      简易负离子发生器负离子增加,对人有催眠、止汗、镇痛、增进食欲,使人精神爽快,消除疲劳的作用。图1是负离子发生器电路图。220V交流市电经D1整流后向C3和C2充电,当C2充电至氖泡导通并触发SCR导通时,C3经SCR、B的L1放电,经B感应升压后,由D2反向整流得8kV直流高压使发生器M的分子电离而产生负离子。调整R3的阻值可以改变触发频率和输出电压。调整时必须注意安全,更换元件需拨下电源插头

    标签: 负离子发生器

    上传时间: 2013-10-29

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  • 38V/100A可直接并联大功率AC/DC变换器

    38V/100A可直接并联大功率AC/DC变换器 随着电力电子技术的发展,电源技术被广泛应用于计算机、工业仪器仪表、军事、航天等领域,涉及到国民经济各行各业。特别是近年来,随着IGBT的广泛应用,开关电源向更大功率方向发展。研制各种各样的大功率,高性能的开关电源成为趋势。某电源系统要求输入电压为AC220V,输出电压为DC38V,输出电流为100A,输出电压低纹波,功率因数>0.9,必要时多台电源可以直接并联使用,并联时的负载不均衡度<5%。   设计采用了AC/DC/AC/DC变换方案。一次整流后的直流电压,经过有源功率因数校正环节以提高系统的功率因数,再经半桥变换电路逆变后,由高频变压器隔离降压,最后整流输出直流电压。系统的主要环节有DC/DC电路、功率因数校正电路、PWM控制电路、均流电路和保护电路等。 1 有源功率因数校正环节 由于系统的功率因数要求0.9以上,采用二极管整流是不能满足要求的,所以,加入了有源功率因数校正环节。采用UC3854A/B控制芯片来组成功率因数电路。UC3854A/B是Unitrode公司一种新的高功率因数校正器集成控制电路芯片,是在UC3854基础上的改进。其特点是:采用平均电流控制,功率因数接近1,高带宽,限制电网电流失真≤3%[1]。图1是由UC3854A/B控制的有源功率因数校正电路。   该电路由两部分组成。UC3854A/B及外围元器件构成控制部分,实现对网侧输入电流和输出电压的控制。功率部分由L2,C5,V等元器件构成Boost升压电路。开关管V选择西门康公司的SKM75GB123D模块,其工作频率选在35kHz。升压电感L2为2mH/20A。C5采用四个450V/470μF的电解电容并联。因为,设计的PFC电路主要是用在大功率DC/DC电路中,所以,在负载轻的时候不进行功率因数校正,当负载较大时功率因数校正电路自动投入使用。此部分控制由图1中的比较器部分来实现。R10及R11是负载检测电阻。当负载较轻时,R10及R11上检测的信号输入给比较器,使其输出端为低电平,D2导通,给ENA(使能端)低电平使UC3854A/B封锁。在负载较大时ENA为高电平才让UC3854A/B工作。D3接到SS(软启动端),在负载轻时D3导通,使SS为低电平;当负载增大要求UC3854A/B工作时,SS端电位从零缓慢升高,控制输出脉冲占空比慢慢增大实现软启动。 2 DC/DC主电路及控制部分分析 2.1 DC/DC主电路拓扑 在大功率高频开关电源中,常用的主变换电路有推挽电路、半桥电路、全桥电路等[2]。其中推挽电路的开关器件少,输出功率大,但开关管承受电压高(为电源电压的2倍),且变压器有六个抽头,结构复杂;全桥电路开关管承受的电压不高,输出功率大,但是需要的开关器件多(4个),驱动电路复杂。半桥电路开关管承受的电压低,开关器件少,驱动简单。根据对各种拓扑方案的工程化实现难度,电气性能以及成本等指标的综合比较,本电源选用半桥式DC/DC变换器作为主电路。图2为大功率开关电源的主电路拓扑图。

    标签: 100 38 AC DC

    上传时间: 2013-11-13

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  • 决定系统时钟频率的寄存器

    关于系统时钟的一些寄存器

    标签: 系统时钟 寄存器 频率

    上传时间: 2013-11-12

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  • MCS-51系列单片机实用接口技术

    本书全面、系统地介绍了MCS-51系列单片机应用系统的各种实用接口技术及其配置。   内容包括:MCS-51系列单片机组成原理:应用系统扩展、开发与调试;键盘输入接口的设计及调试;打印机和显示器接口及设计实例;模拟输入通道接口技术;A/D、D/A、接口技术及在控制系统中的应用设计;V/F转换器接口技术、串行通讯接口技术以及其它与应用系统设计有关的实用技术等。   本书是为满足广大科技工作者从事单片机应用系统软件、硬件设计的需要而编写的,具有内容新颖、实用、全面的特色。所有的接口设计都包括详细的设计步骤、硬件线路图及故障分析,并附有测试程序清单。书中大部分接口软、硬件设计实例都是作者多年来从事单片机应用和开发工作的经验总结,实用性和工程性较强,尤其是对应用系统中必备的键盘、显示器、打印机、A/D、D/A通讯接口设计、模拟信号处理及开发系统应用举例甚多,目的是让将要开始和正在从事单片机应用开发的科研人员根据自己的实际需要来选择应用,一书在手即可基本完成单片机应用系统的开发工作。   本书主要面向从事单片机应用开发工作的广大工程技术人员,也可作为大专院校有关专业的教材或教学参考书。 第一章MCS-51系列单片机组成原理   1.1概述   1.1.1单片机主流产品系列   1.1.2单片机芯片技术的发展概况   1.1.3单片机的应用领域   1.2MCS-51单片机硬件结构   1.2.1MCS-51单片机硬件结构的特点   1.2.2MCS-51单片机的引脚描述及片外总线结构   1.2.3MCS-51片内总体结构   1.2.4MCS-51单片机中央处理器及其振荡器、时钟电路和CPU时序   1.2.5MCS-51单片机的复位状态及几种复位电路设计   1.2.6存储器、特殊功能寄存器及位地址空间   1.2.7输入/输出(I/O)口   1.3MCS-51单片机指令系统分析   1.3.1指令系统的寻址方式   1.3.2指令系统的使用要点   1.3.3指令系统分类总结   1.4串行接口与定时/计数器   1.4.1串行接口简介   1.4.2定时器/计数器的结构   1.4.3定时器/计数器的四种工作模式   1.4.4定时器/计数器对输入信号的要求   1.4.5定时器/计数器的编程和应用   1.5中断系统   1.5.1中断请求源   1.5.2中断控制   1.5.3中断的响应过程   1.5.4外部中断的响应时间   1.5.5外部中断方式的选择   第二章MCS-51单片机系统扩展   2.1概述   2.2程序存贮器的扩展   2.2.1外部程序存贮器的扩展原理及时序   2.2.2地址锁存器   2.2.3EPROM扩展电路   2.2.4EEPROM扩展电路   2.3外部数据存贮器的扩展   2.3.1外部数据存贮器的扩展方法及时序   2.3.2静态RAM扩展   2.3.3动态RAM扩展   2.4外部I/O口的扩展   2.4.1I/O口扩展概述   2.4.2I/O口地址译码技术   2.4.38255A可编程并行I/O扩展接口   2.4.48155/8156可编程并行I/O扩展接口   2.4.58243并行I/O扩展接口   2.4.6用TTL芯片扩展I/O接口   2.4.7用串行口扩展I/O接口   2.4.8中断系统扩展   第三章MCS-51单片机应用系统的开发   3.1单片机应用系统的设计   3.1.1设计前的准备工作   3.1.2应用系统的硬件设计   3.1.3应用系统的软件设计   3.1.4应用系统的抗干扰设计   3.2单片机应用系统的开发   3.2.1仿真系统的功能   3.2.2开发手段的选择   3.2.3应用系统的开发过程   3.3SICE—IV型单片机仿真器   3.3.1SICE-IV仿真器系统结构   3.3.2SICE-IV的仿真特性和软件功能   3.3.3SICE-IV与主机和终端的连接使用方法   3.4KHK-ICE-51单片机仿真开发系统   3.4.1KHK—ICE-51仿真器系统结构   3.4.2仿真器系统功能特点   3.4.3KHK-ICE-51仿真系统的安装及其使用   3.5单片机应用系统的调试   3.5.1应用系统联机前的静态调试   3.5.2外部数据存储器RAM的测试   3.5.3程序存储器的调试   3.5.4输出功能模块调试   3.5.5可编程I/O接口芯片的调试   3.5.6外部中断和定时器中断的调试   3.6用户程序的编辑、汇编、调试、固化及运行   3.6.1源程序的编辑   3.6.2源程序的汇编   3.6.3用户程序的调试   3.6.4用户程序的固化   3.6.5用户程序的运行   第四章键盘及其接口技术   4.1键盘输入应解决的问题   4.1.1键盘输入的特点   4.1.2按键的确认   4.1.3消除按键抖动的措施   4.2独立式按键接口设计   4.3矩阵式键盘接口设计   4.3.1矩阵键盘工作原理   4.3.2按键的识别方法   4.3.3键盘的编码   4.3.4键盘工作方式   4.3.5矩阵键盘接口实例及编程要点   4.3.6双功能及多功能键设计   4.3.7键盘处理中的特殊问题一重键和连击   4.48279键盘、显示器接口芯片及应用   4.4.18279的组成和基本工作原理   4.4.28279管脚、引线及功能说明   4.4.38279编程   4.4.48279键盘接口实例   4.5功能开关及拨码盘接口设计   第五章显示器接口设计   5.1LED显示器   5.1.1LED段显示器结构与原理   5.1.2LED显示器及显示方式   5.1.3LED显示器接口实例   5.1.4LED显示器驱动技术   5.2单片机应用系统中典型键盘、显示接口技术   5.2.1用8255和串行口扩展的键盘、显示器电路   5.2.2由锁存器组成的键盘、显示器接口电路   5.2.3由8155构成的键盘、显示器接口电路   5.2.4用8279组成的显示器实例   5.3液晶显示LCD   5.3.1LCD的基本结构及工作原理   5.3.2LCD的驱动方式   5.3.34位LCD静态驱动芯片ICM7211系列简介   5.3.4点阵式液晶显示控制器HD61830介绍   5.3.5点阵式液晶显示模块介绍   5.4荧光管显示   5.5LED大屏幕显示器   第六章打印机接口设计   6.1打印机简介   6.1.1打印机的基本知识   6.1.2打印机的电路构成   6.1.3打印机的接口信号   6.1.4打印机的打印命令   6.2TPμP-40A微打与单片机接口设计   6.2.1TPμP系列微型打印机简介   6.2.2TPμP-40A打印功能及接口信号   6.2.3TPμP-40A工作方式及打印命令   6.2.48031与TPμP-40A的接口   6.2.5打印编程实例   6.3XLF微型打印机与单片机接口设计   6.3.1XLF微打简介   6.3.2XLF微打接口信号及与8031接口设计   6.3.3XLF微打控制命令   6.3.4打印机编程   6.4标准宽行打印机与8031接口设计   6.4.1TH3070接口引脚信号及时序   6.4.2与8031的简单接口   6.4.3通过打印机适配器完成8031与打印机的接口   6.4.4对打印机的编程   第七章模拟输入通道接口技术   7.1传感器   7.1.1传感器的分类   7.1.2温度传感器   7.1.3光电传感器   7.1.4湿度传感器   7.1.5其他传感器   7.2模拟信号放大技术   7.2.1基本放大器电路   7.2.2集成运算放大器   7.2.3常用运算放大器及应用举例   7.2.4测量放大器   7.2.5程控增益放大器   7.2.6隔离放大器   7.3多通道模拟信号输入技术   7.3.1多路开关   7.3.2常用多路开关   7.3.3模拟多路开关   7.3.4常用模拟多路开关   7.3.5多路模拟开关应用举例   7.3.6多路开关的选用   7.4采样/保持电路设计   7.4.1采样/保持原理   7.4.2集成采样/保持器   7.4.3常用集成采样/保持器   7.4.4采样保持器的应用举例   7.5有源滤波器的设计   7.5.1滤波器分类   7.5.2有源滤波器的设计   7.5.3常用有源滤波器设计举例   7.5.4集成有源滤波器   第八章D/A转换器与MCS-51单片机的接口设计与实践   8.1D/A转换器的基本原理及主要技术指标   8.1.1D/A转换器的基本原理与分类   8.1.2D/A转换器的主要技术指标   8.2D/A转换器件选择指南   8.2.1集成D/A转换芯片介绍   8.2.2D/A转换器的选择要点及选择指南表   8.2.3D/A转换器接口设计的几点实用技术   8.38位D/A转换器DAC080/0831/0832与MCS-51单片机的接口设计   8.3.1DAC0830/0831/0832的应用特性与引脚功能   8.3.2DAC0830/0831/0832与8031单片机的接口设计   8.3.3DAC0830/0831/0832的调试说明   8.3.4DAC0830/0831/0832应用举例   8.48位D/A转换器AD558与MCS-51单片机的接口设计   8.4.1AD558的应用特性与引脚功能   8.4.2AD558与8031单片机的接口及调试说明   8.4.38位D/A转换器DAC0800系列与8031单片机的接口   8.510位D/A转换器AD7522与MCS-51的硬件接口设计   8.5.1AD7522的应用特性及引脚功能   8.5.2AD7522与8031单片机的接口设计   8.610位D/A转换器AD7520/7530/7533与MCS一51单片机的接口设计   8.6.1AD7520/7530/7533的应用特性与引脚功能   8.6.2AD7520系列与8031单片机的接口   8.6.3DAC1020/DAC1220/AD7521系列D/A转换器接口设计   8.712位D/A转换器DAC1208/1209/1210与MCS-51单片机的接口设计   8.7.1DAC1208/1209/1210的内部结构与引脚功能   8.7.2DAC1208/1209/1210与8031单片机的接口设计   8.7.312位D/A转换器DAC1230/1231/1232的应用设计说明   8.7.412位D/A转换器AD7542与8031单片机的接口设计   8.812位串行DAC-AD7543与MCS-51单片机的接口设计   8.8.1AD7543的应用特性与引脚功能   8.8.2AD7543与8031单片机的接口设计   8.914位D/A转换器AD75335与MCS-51单片机的接口设计   8.9.1AD8635的内部结构与引脚功能   8.9.2AD7535与8031单片机的接口设计   8.1016位D/A转换器AD1147/1148与MCS-51单片机的接口设计   8.10.1AD1147/AD1148的内部结构及引脚功能   8.10.2AD1147/AD1148与8031单片机的接口设计   8.10.3AD1147/AD1148接口电路的应用调试说明   8.10.416位D/A转换器AD1145与8031单片机的接口设计   第九章A/D转换器与MCS-51单片机的接口设计与实践   9.1A/D转换器的基本原理及主要技术指标   9.1.1A/D转换器的基本原理与分类   9.1.2A/D转换器的主要技术指标   9.2面对课题如何选择A/D转换器件   9.2.1常用A/D转换器简介   9.2.2A/D转换器的选择要点及应用设计的几点实用技术   9.38位D/A转换器ADC0801/0802/0803/0804/0805与MCS-51单片机的接口设计   9.3.1ADC0801~ADC0805芯片的引脚功能及应用特性   9.3.2ADC0801~ADC0805与8031单片机的接口设计   9.48路8位A/D转换器ADC0808/0809与MCS一51单片机的接口设计   9.4.1ADC0808/0809的内部结构及引脚功能   9.4.2ADC0808/0809与8031单片机的接口设计   9.4.3接口电路设计中的几点注意事项   9.4.416路8位A/D转换器ADC0816/0817与MCS-51单片机的接口设计   9.510位A/D转换器AD571与MCS-51单片机的接口设计   9.5.1AD571芯片的引脚功能及应用特性   9.5.2AD571与8031单片机的接口   9.5.38位A/D转换器AD570与8031单片机的硬件接口   9.612位A/D转换器ADC1210/1211与MCS-51单片机的接口设计   9.6.1ADC1210/1211的引脚功能与应用特性   9.6.2ADC1210/1211与8031单片机的硬件接口   9.6.3硬件接口电路的设计要点及几点说明   9.712位A/D转换器AD574A/1374/1674A与MCS-51单片机的接口设计   9.7.1AD574A的内部结构与引脚功能   9.7.2AD574A的应用特性及校准   9.7.3AD574A与8031单片机的硬件接口设计   9.7.4AD574A的应用调试说明   9.7.5AD674A/AD1674与8031单片机的接口设计   9.8高速12位A/D转换器AD578/AD678/AD1678与MCS—51单片机的接口设计   9.8.1AD578的应用特性与引脚功能   9.8.2AD578高速A/D转换器与8031单片机的接口设计   9.8.3AD578高速A/D转换器的应用调试说明   9.8.4AD678/AD1678采样A/D转换器与8031单片机的接口设计   9.914位A/D转换器AD679/1679与MCS-51单片机的接口设计   9.9.1AD679/AD1679的应用特性及引脚功能   9.9.2AD679/1679与8031单片机的接口设计   9.9.3AD679/1679的调试说明   9.1016位ADC-ADC1143与MCS-51单片机的接口设计   9.10.1ADC1143的应用特性及引脚功能   9.10.2ADC1143与8031单片机的接口设计   9.113位半积分A/D转换器5G14433与MCS-51单片机的接口设计   9.11.15G14433的内部结构及引脚功能   9.11.25G14433的外部电路连接与元件参数选择   9.11.35G14433与8031单片机的接口设计   9.11.45G14433的应用举例   9.124位半积分A/D转换器ICL7135与MCS—51单片机的接口设计   9.12.1ICL7135的内部结构及芯片引脚功能   9.12.2ICL7135的外部电路连接与元件参数选择   9.12.3ICL7135与8031单片机的硬件接口设计   9.124ICL7135的应用举例   9.1312位双积分A/D转换器ICL7109与MCS—51单片机的接口设计   9.13.1ICL7109的内部结构与芯片引脚功能   9.13.2ICL7109的外部电路连接与元件参数选择   9.13.3ICL7109与8031单片机的硬件接口设计   9.1416位积分型ADC一ICL7104与MCS-51单片机的接口设计   9.14.1ICL7104的主要应用特性及引脚功能   9.14.2ICL7104与8031单片机的接口设计   9.14.3其它积分型A/D转换器简介   第十章V/F转换器接口技术   10.1V/F转换的特点及应用环境   10.2V/F转换原理及用V/F转换器实现A/D转换的方法   10.2.1V/F转换原理   10.2.2用V/F转换器实现A/D转换的方法   10.3常用V/F转换器简介   10.3.1VFC32   10.3.2LMX31系列V/F转换器   10.3.3AD650   10.3.4AD651   10.4V/F转换应用系统中的通道结构   10.5LM331应用实例   10.5.1线路原理   10.5.2软件设计   10.6AD650应用实例   10.6.1AD650外围电路设计   10.6.2定时/计数器(8253—5简介)   10.6.3线路原理   10.6.4软件设计   第十一章串行通讯接口技术   11.1串行通讯基础   11.1.1异步通讯和同步通讯   11.1.2波特率和接收/发送时钟   11.1.3单工、半双工、全双工通讯方式   11.14信号的调制与解调   11.1.5通讯数据的差错检测和校正   11.1.6串行通讯接口电路UART、USRT和USART   11.2串行通讯总线标准及其接口   11.2.1串行通讯接口   11.2.2RS-232C接口   11.2.3RS-449、RS-422、RS-423及RS485   11.2.420mA电流环路串行接口   11.3MCS-51单片机串行接口   11.3.1串行口的结构   11.3.2串行接口的工作方式   11.3.3串行通讯中波特率设置   11.4MCS-51单片机串行接口通讯技术   11.4.1单片机双机通讯技术   11.4.2单片机多机通讯技术   11.5IBMPC系列机与单片机的通讯技术   11.5.1异步通讯适配器   11.5.2IBM-PC机与8031双机通讯技术   11.5.3IBM—PC机与8031多机通讯技术   11.6MCS-51单片机串行接口的扩展   11.6.1Intel8251A可编程通讯接口   11.6.2扩展多路串行口的硬件设计   11.6.3通讯软件设计   第十二章应用系统设计中的实用技术   12.1MCS-51单片机低功耗系统设计   12.1.1CHMOS型单片机80C31/80C51/87C51的组成与使用要点   12.1.2CHMOS型单片机的空闲、掉电工作方式   12.1.3CHMOS型单片机的I/O接口及应用系统实例   12.1.4HMOS型单片机的节电运行方式   12.2逻辑电平接口技术   12.2.1集电极开路门输出接口   12.2.2TTL、HTL、ECL、CMOS电平转换接口   12.3电压/电流转换   12.3.1电压/0~10mA转换   12.3.2电压1~5V/4~20mA转换   12.3.30~10mA/0~5V转换   12.344~20mA/0~5V转换   12.3.5集成V/I转换电路   12.4开关量输出接口技术   12.4.1输出接口隔离技术   12.4.2低压开关量信号输出技术   12.4.3继电器输出接口技术   12.4.4可控硅(晶闸管)输出接口技术   12.4.5固态继电器输出接口   12.4.6集成功率电子开关输出接口   12.5集成稳压电路   12.5.1电源隔离技术   12.5.2三端集成稳压器   12.5.3高精度电压基准   12.6量程自动转换技术   12.6.1自动转换量程的硬件电路   12.6.2自动转换量程的软件设计   附录AMCS-51单片机指令速查表   附录B常用EPROM固化电压参考表   参考文献

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    上传时间: 2013-10-15

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