数字存储器和混合信号超大规模集成电路
本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC（System on a chip）测试。
dephi OBD II 技术路线,所谓OBD-II是一个系列的法规，目的是通过检测整个动力总成系统的故障或劣化来减少在用车的排放，排放控制系统是OBD-II的基础。OBD-II同时也提供诊断的标准化，修理及其他相关服务的标准化。当车辆的排放（HC,CO,NOx)由于被检测的零部件/系统的劣化而超出相关标准的1.5倍时，故障指示灯（MIL）必须被点亮以通知驾驶员，并同时记录故障码。
