近年来，随着计算机、微电子、通信及网络技术、信息技术的发展、数字化产品的普及，嵌入式系统渗透到了各个领域，已经成为计算机领域的一个重要组成部分，成为新兴的研究热点，嵌入式软件也在整个软件产业中占据了重要地位。一个好的调试工具对软件产品质量和开发周期的促进作用是不言而喻的，使得嵌入式调试工具成为了人们关注的重点。目前使用集成开发环境配合JTAG调试器进行开发是目前采用最多的一种嵌入式软件开发调试方式。国内在JTAG调试器开发领域中相对落后，普遍采用的是国外的工具产品。因此开发功能强大的嵌入式调试系统具有重要的实际意义。 当前嵌入式系统中尤其流行和值得关注的是ARM系列的嵌入式处理器。为此本课题的目标就是设计并实现一个应用于ARM平台的JTAG调试系统。GDB是一个源码开放的功能强大的调试器，可以调试各种程序，包括 C、C++、JAvA、PASCAL、FORAN和一些其它的语言，还包括GNU所支持的所有微处理器的汇编语言。此外GDB同目标板交换信息的能力相当强，胜过绝大多数的商业调试内核，因此使用GDB不仅能够保证强大的调试功能，同时可以降低调试系统的开发成本。为此本课题在对边界扫描协议、ARM7TDMI片上仿真器Embedded-ICE和GDB远程调试协议RSP做了深入研究的基础上，实现了GDB调试器对嵌入式JTAG调试的支持。此外设计中还把可重够计算技术引入到硬件JTAG协议转换器的开发设计中，使调试器硬件资源可复用、易于升级，并大大提高了数据的传输速度。从而实现了一个低成本的、高效的、支持源代码级调试的JTAG调试系统。
上传时间： 2013-08-04
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本文通过对一台工业仪表通信协议进行分析，介绍了用VB6.0开发微机实时数据采集程序的编程技术。关键词：VB；MSComm控件；通信协议；实时；数据采集Abstract: The pap
上传时间： 2013-06-03
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在诸多行业的材料及材料制成品中，表面缺陷是影响产品质量的重要因素之一。研究具有显微图像实时记录、处理和显示功能的材料表面缺陷检测技术，对材料的分选和材料质量的检查及评价具有重要的意义。 本文以聚合物薄膜材料为被测对象，研究了适用于材料表面缺陷检测的基于现场可编程门阵列(FPGA)的缺陷数据实时处理技术，可实时提供缺陷显微图像信息，完成了对现有材料缺陷检测装置的数字化改造与性能扩展。本文利用FPGA并行结构、运算速度快的特点实现了材料缺陷的实时检测。搭建了以FPGA为核心的缺陷数据处理系统的硬件电路；重点针对聚合物薄膜材料缺陷信号的数据特征，设计了基于FPGA的缺陷图像预处理方案：首先对通过CCD获得的聚合物薄膜材料的缺陷信号进行处理，利用动态阈值定位缺陷区域，将高于阈值的数据即图像背景信息舍弃，保留低于阈值的数据，即完整保留缺陷显微图像的有用信息；然后按照预先设计的封装格式封装缺陷数据；最后通过USB2.0接口将封装数据传输至上位机进行缺陷显微图像重建。此方案大大减少了上传数据量，缓解了上位机的压力，提高了整个缺陷检测装置的检测速度。本文对标准模板和聚合物薄膜材料进行了实验验证。实验结果表明，应用了基于FPGA的缺陷数据实时处理技术的CCD扫描缺陷检测装置可对70μm～1000μm范围内的缺陷进行有效检测，实时重建的缺陷显微图像与实际缺陷在形状和灰度上都有很好的一致性。
上传时间： 2013-05-19
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提取汉字点阵程序，功能强大，能够1024*1024一下点阵取模
上传时间： 2013-07-10
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宏晶单片机12C5A60S2系列的的AD演示程序
上传时间： 2013-05-17
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Linux设备驱动程序,(中文版第三版)
上传时间： 2013-06-16
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适合初学者使用的tms320f2812流水灯程序,基于QQ2812开发板
上传时间： 2013-05-29
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本文对基于FPGA的液晶显示控制系统的设计与实现进行了研究。设计中从LCD技术参数着手，通过对显示驱动系统结构与工作原理的研究，设计出显示控制系统的框图及各功能模块的VHDL程序，通过单片机系统配置FPGA芯片，控制LCD显示相应的汉字和图形。LCD显示控制系统由显示控制电路、显示驱动电路和相关外围辅助电路组成。显示控制电路从电路中各个功能模块所需要的控制时序信号出发，通过对其工作过程的研究，设计出控制器、RAM控制器等各功能模块。显示驱动电路从LCD工作所需要的扫描时序信号出发，设计出时序发生电路等各功能模块。所有的VHDL程序通过了MAX+PLUS—II软件实现编译及仿真后，在实际的硬件中调试通过。
上传时间： 2013-05-24
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LabVIEW串口通信程序设计LabVIEW串口通信程序设计LabVIEW串口通信程序设计LabVIEW串口通信程序设计
上传时间： 2013-05-21
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华为内部程序设计培训.pdf华为内部程序设计培训.pdf
上传时间： 2013-07-05
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