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手机测试

手机测试是一个很大的题目,涉及到硬件测试和软件测试,还有结构的测试,比如抗压,抗摔,抗疲劳,抗低温高温等,结构上的设计不合理,会造成压力集中,使得本身外壳变形,对于翻盖手机,盖子失效,还有其他严重问题。硬件测试一般都有严格的物理电气指标,也有专门的仪器。
  • NEC手机JAVA初级讲座

    ·小男孩尼克是个中学生,他每天都用手机和朋友通电话,发信息,上网。而且还从网上下载手机游戏来玩。 有一天,尼克从朋友那里听说,不光可以下载别人制作好的手机应用,而且还可以用一种叫做JAVA的东西来制作自己的手机应用程序。好奇心很强的尼克,真想马上就能自己制作应用程序,于是便去请教住在附近的精通手机应用和JAVA知识的JAVA博士…… 这可不是低幼读物哦,这是NEC-MobileFriend带给我们的

    标签: JAVA NEC 手机 讲座

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:sun_pro12580

  • 论山寨手机与Android联姻的技术基础(全集)_split_1

    ·论山寨手机与Android联姻的技术基础(全集)_split_1

    标签: Android split 山寨 手机

    上传时间: 2013-08-01

    上传用户:fhzm5658

  • C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片

    ·详细说明:C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片;本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100%。文件列表:   sample   ......\App.ico   ......\AssemblyInfo.cs   ......\bin   ......\...\Debug   ......\...\Release &

    标签: 环境 源代码 测试 车牌

    上传时间: 2013-07-11

    上传用户:changeboy

  • [测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

    ·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS 

    标签: nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

    上传时间: 2013-07-21

    上传用户:euroford

  • TI、NXP、MTK的手机开发全套资料

    ·文件列表:   TI手机平台训练   ..............\TI手机平台training1.pdf   ..............\TI手机平台training2.pdf   ..............\TI手机平台training5.pdf

    标签: NXP MTK 手机开发

    上传时间: 2013-05-30

    上传用户:jyycc

  • NEC手机JAVA中级讲座

    ·以NEC N800手机为例,详细介绍了手机JAVA开发的各个方面: 第一讲:建立开发环境 该使用指南解释和说明了如何建立与验证你的开发环境。 第二讲:制作应用程序 主要讲述如何利用MIDP的高级API制作简单的计算应用程序。 第三讲:制作图解应用程序 ― 低级API ―  讲述如何利用低级API进行图解应用程序的开发。 第四讲:动画的制作 讲述如何在手机应用程序中制作动画,并详细介绍其具体操作方法

    标签: JAVA NEC 手机 讲座

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:haohaoxuexi

  • H.263编解码原程序及测试程序源码(含测试序列)

    ·详细说明:H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表:   H.263编解码原程序及测试程序源码   ...............................\libr263   ...............................\.......\coder.c   .................

    标签: 263 编解码 程序 测试程序

    上传时间: 2013-06-18

    上传用户:ykykpb

  • 采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    ·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    标签: 729 DLL 语言 实时通信

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:西伯利亚狼

  • 《电机测试技术》

    ·何秀伟《电机测试技术》

    标签: 电机 测试技术

    上传时间: 2013-06-02

    上传用户:chuckbassboy

  • 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

    ·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用和隔离测试;用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材

    标签: 数字集成电路 嵌入式 内核

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:sjb555