Visual Basic (VB)作为一种高效编程环境,它封装了部分Windows API函数,但也牺牲了一些API的功能。...Windows API即应用程序接口——Windows系统提供给用户进行系统编程和外设控制的强大的函数库,可以实现所有Windows下可以实现的功能。
上传时间： 2014-11-11
上传用户：mikesering
MapX是一个提供给应用程序开发人员的工具。它提供了一个最简单和最节约成本的方法，用来将地图化功能嵌入到新的和现有的应用中。MapX是一个OCX组件，可以被快速集成到使用Visual Basic、PowerBuilder、Delphi、Visual C++或其他面向对象的语言的客户端应用程序以及使用Lotus Script的Lotus Notes （v4.5）中。
上传时间： 2013-12-20
上传用户：Late_Li
摘 要:在介绍图象输入设备和应用程序之间的标准通讯协议TWAIN基础上,应用 此标准,在VC++6.0下开发了通用图象扫描输入程序,它可以方便地在应用程序中 加入图象扫描功能,具有较高的实际应用价值,并在实际应用中取得了很好的效果。 关键词:标准 数据源 数据源管理器
上传时间： 2014-01-02
上传用户：叶山豪
MSComm控件资料,Visual Basic 6.0(以下简称VB) 是一种功能强大、简单易学的程序设计语言。它不但保留了原先Basic语言的全部功能，而且还增加了面向对象程序设计功能。它不仅可以方便快捷地编制适用于数据处理、多媒体等方面的程序，而且利用ActiveX控件MSComm还能十分方便地开发出使用计算机串口的计算机通信程序。本文结合计算机通信的两个例子，详细介绍如何在VB中使用MSComm控件。 处理方式
上传时间： 2014-01-08
上传用户：ayfeixiao
“ICD2 PIC仿真烧写器”是完全兼容Microchip的在线调试器MPLAB-ICD2的一个功能强大、低成本、高运行速度的开发工具。它利用Flash工艺芯片的程序区自读写功能，使用芯片来实现仿真调试功能。 “ICD2 PIC仿真烧写器”使用的软件平台是Microchip的MPLAB-IDE （集成开发环境软件包）或更高版本，兼容Windows 95/98/ME、Windows NT和 Windows 2000/Windows XP/Windows 2003等操作系统。 其通信接口方式为USB2.0高速接口（最高可达12Mbit/s）；工作电压范围为2.0~5.5V。 可烧写大约270种芯片、仿真大约250种芯片、无限升级，微芯将不断更新MPLAB IDE 软件。 与MPLAB ICD2USB完全兼容，是PIC单片机初学者与专业设计人员的最佳选择。
标签： Microchip MPLAB-ICD Flash ICD2
上传时间： 2014-01-05
上传用户：zhuoying119
该应用程序包括了简单的算术运算、字符串处理图片显示等功能，必须包含有按钮、编辑框、进度条、文件菜单等基本的控件，在界面中可嵌入图片或者动画等信息。 基本要求： (1) 用AWT或者Swing实现，可以借助于Eclipse等集成开发环境； (2) 程序运行良好，界面清晰。 提高要求： 在界面中能实现简单动画。
上传时间： 2014-01-09
上传用户：wangdean1101
本书详细介绍了利用Delphi 7开发应用程序的各项知识和诸多技巧。内容由浅入深、重点突出、实例丰富，既适于初/中级读者按部就班地学习，也可作为中/高级读者的良好参考书籍。 全书共包括25章，分门别类的介绍了Delphi 7的知识，全面深入地讲解了Delphi 7的各项功能，每章先介绍基础原理，再分析各种具体的技术手段，最后是工程实践应用。既能让读者系统的学习各方面内容，又可以直接应用于项目开发。
上传时间： 2017-08-16
上传用户：集美慧
表面粗糙度是机械加工中描述工件表面微观形状重要的参数。在机械零件切削的过程中，刀具或砂轮遗留的刀痕，切屑分离时的塑性变形和机床振动等因素，会使零件的表面形成微小的蜂谷。这些微小峰谷的高低程度和间距状况就叫做表面粗糙度，也称为微观不平度。表面粗糙度的测量是几何测量中的一个重要部分，它对于现代制造业的发展起了重要的推动作用。世界各国竞相进行粗糙度测量仪的研制，随着科学技术的发展，各种各样的粗糙度测量系统也竞相问世。对于粗糙度的测量，随着技术的更新，国家标准也一直在变更。最新执行的国家标准(GB/T6062-2002)，规定了粗糙度测量的参数，以及制定了触针式测量粗糙度的仪器标准[1]。 随着新国家标准的执行，许多陈旧的粗糙度测量仪已经无法符合新标准的要求。而且生产工艺的提高使得原有方案的采集精度和采集速度，满足不了现代测量技术的需要。目前，各高校公差实验室及大多数企业的计量部门所使用的计量仪器(如光切显微镜、表面粗糙度检查仪等)只能测量单项参数，而能进行多参数测量的光电仪器价格较贵，一般实验室和计量室难以购置。因此如何利用现有的技术，结含现代测控技术的发展，职制出性能可靠的粗糙度测量仪，能有效地降低实验室测量仪器的成本，具有很好的实用价值和研究意义。 基于上述现状，本文在参考旧的触针式表面粗糙度测量仪技术方案的基础上，提出了一种基于ARM嵌入式系统的粗糙度测量仪的设计。这种测量仪采用了先进的传感器技术，保证了测量的范围和精度；采用了集成的信号调理电路，降低了信号在调制、检波、和放大的过程中的失真；采用了ARM处理器，快速的采集和控制测量仪系统；采用了强大的PC机人机交互功能，快速的计算粗糙度的相关参数和直观的显示粗糙度的特性曲线。 论文主要做了如下工作：首先，论文分析了触针式粗糙度测量仪的发展以及现状；然后，详细叙述了系统的硬件构成和设计，包括传感器的原理和结构分析、信号调理电路的设计、A/D转换电路的设计、微处理器系统电路以及与上位机接口电路的设计。同时，还对系统的数据采集进行了研究，开发了相应的固件程序及接口程序，完成数据采集软件的编写，并且对表面粗糙度参数的算法进行程序的实现。编写了控制应用程序，完成控制界面的设计。最终设计出一套多功能、多参数、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度测量系统。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：KIM66
MSComm 控件通过串行端口(serial port)传送和接收数据,为应用程序提供了串行通讯功能。而且在可视化编程盛行的今天，可以很方便的在Visual Basic(VB)、Visual C++(VC)、Delphi等语言及开发平台中应用。
上传时间： 2015-01-10
上传用户：Breathe0125
《深入理解COM＋》提供了一个对COM＋体系结构和关键特征的全面的、引人入胜的介绍。它告诉你COM＋如何使企业应用开发变得要加简单而有效，从而使你的企业应用很好地建立和运行起来。
上传时间： 2015-03-18
上传用户：hasan2015
