📚 回归分析技术资料

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基于小波分析,使用线性回归模型来进行纹理的识别和分类,是08年IEEE TRANSACTION的经典文献。...

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关于关联向量机应用的最新文献! 提出了一种核主元分析(KPCA)和关联向量机(RVM)相结合的组合建模方法。KPCA-RVM采用KPCA对原始自变量进行非线性变换并提取主成分,形成特征自变量 采用R...

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从典型的表面贴装工厂的实践来看,半导体失效原因主要分为与材料有关的失效、与工艺有关的失效,以及电学失效。通常与材料和工艺有关的失效发生的较为频繁,而且失效率很高,但是占有90%以上的失效并不是真正的失...

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