电子系统热管理设计与验证中的结温估算与测量
针对电子系统容易出现的热失效问题,论述在电子系统的热管理设计与验证中,对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数,来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线,进而求解出器件的结温估算...
针对电子系统容易出现的热失效问题,论述在电子系统的热管理设计与验证中,对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数,来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线,进而求解出器件的结温估算...
电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的,采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法,通过相关物理模型和一个电子产...
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Multisim可用于原理图输入、SPICE仿真、和电路设计,无需SPICE专业知识,即可通过仿真来减少设计流程前期的原型反复。Multisim可识别错误、验证设计,以及更快地原型。此外,Mult...
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排序算法以及评估...
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