可测试纹波的电子负载---JT63系列负载纹波测试说明
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可测试性设计技术资料
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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段引入测试机制，显著提高电路板及芯片的故障检测效率与维修便利性。适用于消费电子、汽车电子、航空航天等多个领域，对于缩短产品上市时间、降低维护成本具有重要意义。本页面汇集了74615份精选资源，涵盖从基础理论到高级实践案例，助力工程师掌握DFT核心技能，优化设计流程，提升产品质量。立即探索，开启您的专业成长之旅！
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查看全部74615个资源 »基于AVR单片机的摄像机帧速测试系统设计
摄像机在安防、交通监视领域已广泛使用，为检验摄像机画面捕捉速度的能力是否达到设计要求，本文提出基于AVR单片机的摄像机帧速测试系统设计，采用LED数码管和摄像机同步工作的方法，来检验摄像机质量，此系统具有低功耗、运行可靠、使用方便的特点。 ...
基于AVR单片机的木材含水率测试系统设计
木材含水率，电阻法，承重法,基于，AVR单片机的木材含水率测试系统设计。...
单片机应用技术选编11
单片机应用技术选编(11) 目录 第一章 专题论述 1.1 3种嵌入式操作系统的分析与比较(2) 1.2 KEIL RTX51 TINY内核的分析与应用(8) 1.3 中间件技术及其发展展望(13) 1.4 嵌入式实时操作系统μC/OSⅡ的移植探讨(19) 1.5 μC/...
一种片上系统复位电路的设计
设计了一种片上系统（SoC）复位电路。该电路能对外部输入信号进行同步化处理以抑制亚稳态，采用多级D触发器进行滤波提升抗干扰能力，并且控制产生系统所需的复位时序以满足软硬件协同设计需求。同时，完成了可测性设计（DFT）。基于Xilinx spartan-6 FPGA进行了验证。结果表明该电路可以抑制9...
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