GPIB接口总线控制芯片的研究与设计
GPIB为PC机与可编程仪器之间的连接系统定义了电气、机械、功能和软件特性。在自动测试领域中，GPIB通用接口是测试仪器常用的接口方式，具有一定的优势。通过GPIB组建自动测试系统方便且费用低廉。而GPIB控制芯片是自动测试系统中的关键芯片。目前，此类芯片只有国外少数公司生产，不仅价格昂贵，而且购买...
可测试性设计技术资料
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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，旨在通过在设计阶段嵌入测试机制来提高电路的可测性和故障覆盖率。广泛应用于集成电路、微处理器及复杂数字系统的验证与维护过程中，确保产品可靠性和降低生产成本。掌握DFT技术对于提升个人竞争力至关重要，本页面汇集了74615份精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系，助力工程师快速成长为行业专家。
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查看全部74615个资源 »现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设...
本书是Brian W. Kernighan和Rob Pike合著的最新力作。本书从排错、测试、性能、可移植性、设计、界面、风格和记法等方面
本书是Brian W. Kernighan和Rob Pike合著的最新力作。本书从排错、测试、性能、可移植性、设计、界面、风格和记法等方面，讨论了程序设计中实际的、又是非常深刻和具有广泛意义的思想、技术和方法，它的翻译出版将填补国内目前这方面书籍的空白。本书值得每个梦想并努力使自己成为优秀程序员的人...
本书是Brian W. Kernighan和Rob Pike合著的最新力作。本书从排错、测试、性能、可移植性、设计、界面、风格和记法等方面
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