现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度 - 免费下载

行业发展研究资源 文件大小：41 K

📋 资源详细信息

文件格式
未知
所属分类
行业发展研究
上传用户
上传时间
文件大小
41 K
所需积分
2 积分
推荐指数
⭐⭐⭐⭐⭐ (5/5)

💡 温馨提示：本资源由用户 dier1128 上传分享，仅供学习交流使用。如有侵权，请联系我们删除。

资源简介

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。

源码文件列表

📂 共 1 个源码文件 点击文件名可在线查看源代码

💡
温馨提示：点击文件名或"查看源码"按钮可在线浏览源代码，支持语法高亮显示。

立即下载此资源

提示：下载后请用压缩软件解压，推荐使用 WinRAR 或 7-Zip

资源说明

📥 下载说明

  • 下载需消耗 2积分
  • 24小时内重复下载不扣分
  • 支持断点续传
  • 资源永久有效

📦 使用说明

  • 下载后用解压软件解压
  • 推荐 WinRAR 或 7-Zip
  • 如有密码请查看说明
  • 解压后即可使用

🎁 积分获取

  • 上传资源获得积分
  • 每日签到免费领取
  • 邀请好友注册奖励
  • 查看详情 →

相关标签

点击标签查看更多相关资源：