📚 双脉冲测试技术资料

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双脉冲测试是评估功率半导体器件动态特性的关键方法,广泛应用于MOSFET、IGBT等开关性能分析。通过精确测量开通与关断过程中的电压电流变化,帮助工程师优化电路设计,提高系统效率与可靠性。本页面汇集了16716份精选资源,涵盖理论教程、实验案例及专业软件工具,助力您深入理解并掌握这一核心技术,加速产品研发周期。立即访问,开启您的高效学习之旅!

🔥 双脉冲测试热门资料

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Cree公司生产的SiC MOSFET器件,型号C2M00802012D,在应用器件前需要进行双脉冲实验,实验中用到的主电路原理图(包括PCB文件),驱动和测试原理介绍提供在附件中。其中PCB文件是Gerber文件格式,可以直接交厂制作,不需修改。...

📅 👤 mawei_1990

工作原理: 脉冲输入,记录30个脉冲的间隔时间(总时间),LED显示出来,牵涉到数码管的轮流点亮,以及LED的码。输入端口一定要用个 74LS14整一下,图上没有。数码管使用共阴数码管。MAXPLUS编译。 测试时将光电门的信号端一块连接到J2口的第三管脚,同时第一管脚为地,应该与光电门的地...

📅 👤 banyou

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