基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
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用于烤烟育苗基地的网络型多参数监测系统研制
采用MSP430 为本系统的核心，本系统的总体构成和功能是手持式仪表做为上位机,以若干个(32 个以内)温室内的MSP430F149 单片机为下位机,其间采用无线数据通信. 如图1 所示,各温室内的MSP430F149 单片机负责采集本温室温度、湿度、光照度和二氧化碳浓度等环境参数,并通过无线数...
国外场效应参数及互换手册
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AVAGO安华高品牌光耦参数
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