机械工业是国民经济的装备部门，而标准化和计量测试是机械工业发展的基础和先决条件。在机械制造中，精密加工必须靠精密的测量手段来保证，加工精度的提供与计量技术的发展水平密切相关。测量与控制是促进科技发展的一个重要因素。CCD（Charge Coupled Device），电荷耦合器件，是70年代初发展起来的新型半导体器件，其设计思想是由美国贝尔实验室的Boyer与Smith于70年代提出]。二十多年来，CCD的研究取得了惊人的进展，特别是在传感器应用方面发展迅速，已成为现代光电子学与现代测试技术中最活跃、最富有成果的新兴领域之一。由于CCD具有自扫描、高分辨率、高灵敏度、重量轻、体积小、像素位置准确、耗电少、寿命长、可靠性好、信号处理方便、易于与计算机配合等优点，致使CCD光电尺寸测量的使用范围和特性比现有的机械式、光学式、电磁式量仪优越得多。特别值得注意的是CCD尺寸测量技术是一种非常有效的非接触检测方法，它使加工、检测和控制过程融为一体成为可能。利用CCD作为光敏感器件的激光三角法测量技术在非接触尺寸、位置测量中得到了广泛应用。它将激光束投射到被测物面所形成的漫反射光斑作为传感信号，用透镜成像原理将收集到的漫反射光汇集到CCD上形成像点，当入射光斑随被测物面移动时，成像点在CCD上作相应移动，根据象移大小和传感器的结构参数可以确定被测物面的位移量，若在物体两边同时测量就可以得到物体的厚度。
上传时间： 2022-06-23
上传用户：xsr1983
1、引言SFP光模块的数字诊断监测主要是对光模块的供电电压、模块温度、偏置电流、接收光功率、发射光功率等5个模拟参量和各种监控信号实时监测。通过分析数字化测量结果判断光模块的通信工作状况，这有利于光通信链路的维护目前大部分设计方案是采用MAXIM公司的DS1859，该芯片完全兼容SFF-8472协议，功能齐全，软件编程简便，但是该芯片价格比较贵，同样很多空间已固定，不灵活，扩展性不好，对于以后版本的升级不方便。本方案采用一片MCU，EEPROM，数字控制电位器（DCP）替代DS1859，使用软件编程达到满足SFF-8472协议要求，用FLASH存储A2H地址内容以及内外部校准相结合的新校准思想，具有性价比高，可靠性好，扩展性好，校准快速简便等优点本文首先介绍五个模拟量的一种新校准原理，接若分析DDM系统的控制器MCU、限幅放大器、激光驱动器、存储单元、DCP的原理与作用，然后给出软件的设计思路和实现方案，最后通过实验数据验证该方案的可行性。2、参量校准原理根据SFF-8472协议，光模块的供电电压等五个模拟参量有内部校准和外部校准两种方式，内部校准的参数固化在程序里面，虽然可以通过外部界面设置改变，但是不同型号激光器PD响应度不一样，内部校准就很不灵活。外部校准，克服了内部校准的缺点，但是，由于要测量slope和offet两个参数，需人工手调，在批量生产的情况下，测量效率低下。而使用内外部校准相结合的校准方式可以克服上述的缺点
上传时间： 2022-06-26
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随着新研发单板上高速Serdes信号的增多，信号完整性测试显的越来越重要，本文档围绕Serdes信号的眼图抖动测试总结一些测试注意事项。新研发单板上高速Serdes信号速率高达2.45G，一些时钟信号上升/下降沿达到400ps左右，必然需要测量Serdes信号的眼图、抖动，在这里总结一些测试经验和注意事项。UBPG1单板上有如下几种高速数据SERDES信号：1. GE SERDES接口(SGMII接口标准)2. AIF SERDES接口(CPRI接口标准)3. IQ SERDES接口(类CPRI接口标准，自定义帧格式)4. 光口 SERDES接口(CPRI接口标准)对于SERDES信号，其信号电气特性由IEEE协议规定，在协议中会给出相应的眼图测试模板及抖动指标，部分芯片厂家会在DATASHEET中给出单独的眼图测试模板及抖动指标（一般会比协议要求的更宽松）。UBPG1单板上的SERDES接口按电气特性分有两种，一种是SGMII接口（用1000-BASE-CX模板，IEEE协议39节）；一种是CPRI接口（用XAUI模板，IEEE协议49节）。
上传时间： 2022-06-30
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信号与系统分析及MATLAB实现 超清书签版
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《信号与系统》MATLAB教程
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数字信号处理课件 PDF格式
标签： 数字信号处理
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交大电气-信号与系统分析课件 PPT版
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模拟电子技术基础（第四版）课件 康华光主编 PPT格式
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光测原理和技术
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上传时间： 2013-07-11
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东光元器件样本
上传时间： 2013-06-14
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