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产品测试

  • 3C认证中的电磁兼容测试与对策

    书中以国家“3C”认证为出发点,引出产品对电磁兼容的基本要求,给出相关产品所必须进行的电磁兼容测试项目及所采用测试标准。本书无意成为现有标准的翻版,而希望成为读者在学习、理解和掌握标准时的一种补充。为此,书中重点说明每种试验的目的、作者对标准的理解、试验中对试验仪器的要求、必须有的试验配置、正确的试验方法和对标准的点评等。考虑到国内众多企业在开展电磁兼容试验的同时,也在考虑试验场地的建设,为此本书也选编了部分这方面的内容,说明了各种场地的特点、主要技术指标及选用中的注意事项。

    标签: 3C认证 电磁兼容测试

    上传时间: 2013-07-09

    上传用户:gmh1314

  • FPGA测试方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件,FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短,并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大,满足了目前集成电路发展的新需求,但是其结构同益复杂,规模也越来越大,内部资源的种类也R益丰富,但同时也给测试带来了困难,FPGA的发展对测试的要求越来越高,对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计,通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程,使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99%以上,而且所增加的芯片面积仅仅在5%左右,增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响,这种方案采用了小规模电路进行了验证,取得了很好的结果,是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试,从FPGA最小的逻辑单元LC开始,首先得到一个LC的测试配置,再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置,并且采用阵列化的测试方案,同时测试芯片内部所有的逻辑单元,使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试,测试的故障覆盖率可达100%,测试配置由配套编程工具产生,测试取得了完满的结果。

    标签: FPGA 测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-29

    上传用户:Thuan

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • 美信半导体产品选型指南

    美信半导体是全球领先的半导体制造供应商,Maxim的电能计量方案提供全面的SoC器件选择, 是多芯片方案的高精度、高性价比替代产品。无与伦比的动态范围和独特的32位可编程测量引擎,使 得我们的单芯片方案能够满足不同用户的需求。为各种类型的表计开发提供了一条高效、便捷的途 径,以满足ANSI和IEC的市场要求。 ● 产品满足不同国家对智能表系统以及低端瓦时(Wh)表、防篡改设计以及预付费设备的要求; ● 完备的开发工具加快软件开发、测试和原型设计,缩短研发周期和产品上市时间。

    标签: 美信 半导体产品 选型指南

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:lgnf

  • AN-835高速ADC测试和评估

    本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考,不能替代产品数据手册

    标签: 835 ADC AN 测试

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:zhaiye

  • MILMEGA新款EMC测试放大器

    2010年4月13日, 专业设计和制造固态高功率宽带放大器的MILMEGA公司于2010年亚太区电磁兼容(APEMC)国际学术大会及展览会期间宣布推出一款新的放大器产品。该款产品主要针对商用EMC测试IEC 61000-4-3 标准(覆盖频率范围为80 MHz~1 GHz)。MILMEGA的这一新产品将给EMC测试领域带来革命性的突破。

    标签: MILMEGA EMC 测试 放大器

    上传时间: 2013-11-17

    上传用户:米米阳123

  • 电源老化和测试设备(直流电子负载)

    广泛应用于LED驱动,开关电源,电源适配器,移动电源,充电器,蓄电池等产品的的测试和老化

    标签: 电源老化 测试设备 直流电子负载

    上传时间: 2013-11-15

    上传用户:大融融rr

  • 力科PCIE 3.0系列文章之三——PCIE 3.0的接收机物理层测试方案

    随着信号速率的不断提升,只对高速信号的发送端物理层测试已经不能够完全反应系统的特性,因此接收机测试也已成为了高速信号的必测项目,尤其是对于信号速率高于5Gbps以上,规范均会规定要求产品必须通过接收机一致性测试。接收端测试的基本原理是测试仪器(通常使用误码分析仪或者信号源和能分析误码的专用协议分析仪来完成)发出特定的码型给被测接收端,接收端在环回(Loopback)模式下再将数据接收、恢复后通过其Tx端发送回测试仪器,由测试仪器完成其发出去的数据和接收到的数据的对比,从而分析出误码的数量。

    标签: PCIE 3.0 力科 接收机

    上传时间: 2013-10-22

    上传用户:zukfu

  • PROFIBUS调试助手ProfiAssist 产品简介

    ProfiAssist是用于PROFIBUS-DP总线分析调试的工具,具有报文分析、通讯管理、从站功能测试等功能。可以协助调试基于XGate-DPS开发的PROFIBUS DP 从站设备,也可作为PROFIBUS-DP产品开发的通用工具。

    标签: ProfiAssist PROFIBUS 调试助手 产品简介

    上传时间: 2014-12-30

    上传用户:xhwst

  • 分立电阻器检定测试系统的配置

      分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试,这对确保产品符合制造商性能指标至关重要,而且可以在出货前识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器。通常要对电阻器进行两项测试:电阻器电压系数测试以及电阻器公差带测试。为了确保产品质量,这些测试必须可靠,但为了保持高生产量,测试必须迅速进行。在许多分立电阻器生产测试中,还要使用分立仪器,如电源和数字万用表等。

    标签: 分立电阻器 检定 测试系统

    上传时间: 2013-10-18

    上传用户:ewtrwrtwe