基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
选择陀螺仪时,需要考虑将最大误差源最小化。在大多数应用中,振动敏感度是最大的误差源。其它参数可以轻松地通过校准或求取多个传感器的平均值来改善。偏置稳定度是误差预算较小的分量之一。 ...
采用MSP430 为本系统的核心,本系统的总体构成和功能是手持式仪表做为上位机,以若干个(32 个以内)温室内的MSP430F149 单片机为下位机,其间采用无线数据通信. 如图1 所示,各温室内的MSP430F149 单片机负责采集本温室温度、湿度、光照度和二氧化碳浓度等环境参数,并通过无线数...
使用数字万用表判断三极管管脚教程...
三极管输入输出特性曲线的测试...