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技术资料 Tanner EDA Tools IC及版图设计
Tanner EDA Tools是一款功能强大的集成电路设计软件，主要功能包括数模混合电路、模拟电路和MEMS设计等，在电路设计、版图设计和仿真验证方面带来了很大的帮助，可以满足专业人员的需求。Tanner系列软件是一套完整的集成电路设计工具，包括原 理图输入工具S Edit、电路仿真工具T Spice、波形显示 工具W Edit，门级仿真 ...
技术资料 压力传感器工作原理图
U7100超稳系列压力传感器为要求严格的发动机和机动车辆应用树立了新的性能价格比典范，适合液体和气体压力测量，甚至包括污水，蒸汽和腐蚀性液体等介质。 U7100的压力腔由316L不锈钢加工而成，无O型圈，并且不直接接触测量介质，多种无泄漏压力接口可选。汽车级的压力变送器集成密封压力端口和电气接头，量程从0~15到150psi ...
技术资料 RFC文档翻译.rar
RFC标准文档中文翻译，相当的全，要求加精
在以太网上传输PPP的方法(RFC2516).doc
在IP内封装IP(RFC2003).doc
用于冗余音频数据的RTP负载格式(RFC2198).doc
用LDP和ATM的VC交换实现MPLS(RFC3035).doc
移动IP反向隧道(RFC2344).doc
一个IP电话路由框架(RFC2871).doc
通过RADIUS的L2TP强制遂道的实现(RFC2809).doc
基于MPLS ...
技术资料 开关电源稳定性设计
众所周知，任何闭环系统在增益为单位增益l，且内部随频率变化的相移为360°时，该闭环控制系统都会存在不稳定的可能性。因此几乎所有的开关电源都有一个闭环反馈控制系统，从而能获得较好的性能。在负反馈系统中，控制放大器的连接方式有意地引入了180°相移，如果反馈的相位保持在180°以内，那么控制环路将总是稳定的。当 ...
技术资料 EN28J60中文手册
ENC28J60是MicrochipTechnology（美国微芯科技公司）近期推出的28引脚独立以太网控制器。
在此之前，嵌入式系统开发可选的独立以太网控制器都是为个人计算机系统设计的，如RTL8019、AX88796L、DM9008、CS8900A、LAN91C111等。这些器件不仅结构复杂，体积庞大，且比较昂贵。目前市场上大部分以太网控制器的封装均超过80 ...
技术资料 基于Qt_Embedded的GUI应用程序的实现
随着当前各种手持设备、无线设备及信息家电等嵌入式产品的迅猛发展, 相应的嵌入式软硬件设计技
术也在发生深刻的变化。如今越来越多的嵌入式终端需要一个图形化的人机接口面, GU I 应用程序的设计是嵌
入式系统设计的一个关键技术, 能极大地提高人机交互的效率。介绍了嵌入式L inux GU I 的发展概况, 描述了
Q tö Embedded ...
技术资料 应用于双高速单片机系统中的双端口
双端口RAM是一种特殊的数据存储芯片,利用双端口RAM可以实现双高速单片机总线方式的数据共享.在本系统中,采用双端口RAM(IDT 7005L55)来实现单片机之间并行总线的数据共享,以此来完成两单片机之间的通信和数据传输.在当今的信息工业社会中,步进电机作为自动化控制系统的主体,作用日趋明显.本文通过对三相反应式步进电机的结构 ...
技术资料 表贴电感 直插电感共模电感Altium封装 AD封装库 2D+3D PCB封装库-25MB
表贴电感 直插电感、共模电感Altium封装 AD封装库 2D+3D PCB封装库-25MB,Altium Designer设计的PCB封装库文件，集成2D和3D封装，可直接应用的到你的产品设计中。PCB库封装列表：PCB Library : 电感.PcbLibonent Count : 84Component Name-----------------------------------------------CD31CD32CD42CD43CD52CD53CD54CD73C ...
学术论文 基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...
学术论文 基于FPGA的ADC并行测试方法研究
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...