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技术资料 HCT对血糖仪测量值的影响,对测试血糖有很大的帮助

主要说明影响血糖仪准度的一些原因。如果需要精准的测量,就必须考虑HCT的影响,这样就才能作出高准度的血糖仪。
https://www.eeworm.com/dl/835480.html
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技术资料 《EMC电磁兼容设计与测试案例分析》第二版 郑军奇编著

本书以emc案例分析为主线,通过案例描述、分析来介绍产品设计中的emc技术,向读者介绍产品设计过程中有关emc的实用设计技术与诊断技术,减少设计人员在产品的设计与emc问题诊断中的误区。
https://www.eeworm.com/dl/837109.html
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技术资料 EMIF接口调试代码,使用的是Verilog语言,FPGA与DSP通信,测试成功.

EMIF接口调试代码,使用的是Verilog语言,FPGA与DSP通信,测试成功.
https://www.eeworm.com/dl/837200.html
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技术资料 基于89c52单片机陀螺仪mpu6050测试程序

基于89c52单片机陀螺仪mpu6050测试程序               
https://www.eeworm.com/dl/838517.html
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技术资料 中国快充标准《移动通信终端快速充电技术要求和测试方法》解读.pdf

快充已成为今天最热门应用,需要熟悉行业标准最重要才能准确了解设计方向。
https://www.eeworm.com/dl/839527.html
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技术资料 通用型MSP430单片机——内置温度传感器测试程序

该文档为通用型MSP430单片机——内置温度传感器测试程序总结文档,是一份不错的参考资料,感兴趣的可以下载看看,,,,,,,,,,,,,,,,,
https://www.eeworm.com/dl/840848.html
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技术资料 DSP教程----TMS320C55x的片内集成外设开发及测试

该文档为DSP教程----TMS320C55x的片内集成外设开发及测试总结文档,是一份不错的参考资料,感兴趣的可以下载看看,,,,,,,,,,,,,,,,,
https://www.eeworm.com/dl/841583.html
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技术资料 光电子器件微波封装和测试 半导体科学与技术丛书 2007

总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果,系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术,先进性、学术性和实用性兼备。《光电子器件微波封装和测试》共十一章,内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小 ...
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技术资料 强制性产品认证与产品的电磁兼容性能测试(93页)

强制性产品认证与产品的电磁兼容性能测试(93页)
https://www.eeworm.com/dl/845292.html
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技术资料 基于模型的设计&代码生成 Simulink与DSP28335之间SCI通讯测试小结

SImulink SCI通信 代码生成详解 非常有指导作用。【前言】 通过 Matlab/Simulink 与 DSP28335 之间的 SCI 通讯,实现 Simunlink 与 DSP 之间的实时 数据交互,由 Simulink 向 DSP 给定数据,经 DSP 处理后,再传回 Simulink 实时显示。 参考刘杰、周宇博的《基于模型的设计》(P248-P255) 软件版本及电脑系统配 ...
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