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技术资料  产品认证电磁兼容测试标准与测试方法

为适应我国加入世贸组织的需要，促进我国市场经济和对外贸易的发展，我国政府从体制改革的角度入手，将原国家质量技术监督局和原国家出入境检验检疫局合并组建了新的国家质量监督检验检疫总局。其后不久，又

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产品认证电磁兼容测试标准

技术资料  基于VXI总线测试系统的通用测试软件探讨

根据武器装备实行“三化”要求，本文讨论了一种VXI测控系统软件设计思想，在组建测控系统时，可以大大缩短软件开发时间，而且便于系统的调试和维护。这种设计思想也可用于其它测控系统软件。各国武器装备

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线测试

软件设计/软件工程  软件测试方法软件测试的文档模板软件测试在软件工程中的位置

软件测试方法软件测试的文档模板软件测试在软件工程中的位置

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软件测试软件测试方法文档

J2ME MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试

MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试 MIDP1.0标准按键测试

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MIDP 1.0 标准按键

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测试

单片机编程  freescale k40/k60 pdb-adc 例程

freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程

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freescale pdb-adc 40 60

模拟电子  MT-012 ADC需要考虑的交调失真因素

交调失真(IMD)是用于衡量放大器、增益模块、混频器和其他射频元件线性度的一项常用指标。二阶和三阶交调截点(IP2和IP3)是这些规格参数的品质因素，以其为基础可以计算不同信号幅度下的失真积。虽然射频工程师们非常熟悉这些规格参数，但当将其用于ADC 时往往会产生一些困惑。本教程首先在ADC的框架下对交调失真进行定义， ...

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012 ADC MT 交调失真

模拟电子  单端10-bit SAR ADC IP核的设计

本设计通过采用分割电容阵列对DAC进行优化，在减小了D/A转换开关消耗的能量、提高速度的基础上，实现了一款采样速度为1 MS/s的10-bit单端逐次逼近型模数转换器。使用cadence spectre 工具进行仿真，仿真结果表明，设计的D/A转换器和比较器等电路满足10-bit A/D 转换的要求，逐次逼近A/D转换器可以正常工作。 ...

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bit SAR ADC 10

模拟电子  LTC6362 SAR ADC 驱动器相关资料介绍

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6362 LTC ADC SAR

模拟电子  8位模拟数字转换器(ADC)的设计实现

Abstract: This design idea explains how to implement an 8-bit analog-to-digital converter (ADC), using a microcontroller

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ADC 8位模拟数字转换器设计实现

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