freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程
上传时间： 2013-04-24
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eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 5资源包含以下内容：1. freescale k40/k60 flexbus 例程.rar2. freescale k40/k60 flexmem 例程.rar3. freescale k40/k60 freertos-lwip例程.rar4. freescale k40/k60 freertos-uip 例程.rar5. freescale k40/k60 gpio 例程.rar6. freescale k40/k60 cortex m4 lptmr 例程.rar7. freescale k40/k60 pdb-adc 例程.rar8. freescale k40/k60 cortex m4 rtc 例程.rar9. freescale k40/k60 cortex m4 library.rar10. nxp lpc23/24xx can keil例程.rar11. nxp lpc23/24xx common keil例程 通用文件.rar12. nxp lpc23/24xx spi keil例程.rar13. nxp lpc23/24xx wdt keil例程.rar14. nxp lpc177x/8x lcd keil&iar 例程.rar15. nxp lpc177x/8x ssp-dma keil&iar例程.rar16. STM32F4-Discovery ADC3-DMA keil&iar例程.rar17. STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程.rar18. STM32F4-Discovery DAC_SignalsGeneration.rar19. STM32F4-Discovery DMA-FLASH-RAM keil&iar例程.rar20. STM32F4-Discovery EXIT keil&iar例程.rar21. STM32F4-Discovery FLASH-Program keil&iar例程.rar22. STM32F4-Discovery FLASH-protected keil&iar例程.rar23. STM32F4-Discovery IO_Toggle keil&iar例程.rar24. STM32F4-Discovery IWDG keil&iar例程.rar25. STM32F4-Discovery MEMS keil&iar例程.rar26. STM32F4-Discovery PWR_Standby keil&iar例程.rar27. STM32F4-Discovery Systick keil&iar例程.rar28. STM32F4-Discovery TIM_PWM_Input keil&iar例程.rar29. STM32F4-Discovery TIM_PWM_output keil&iar例程.rar30. STM32F107串口，GPIO 测试程序.rar31. RFID-nRF24LE1程序实例.rar32. 使用CC1101无线模块进行多机通信.zip33. MSP430控制VS1003播放SD卡中的音乐.rar34. STM步进电机程序.zip35. 郭天祥十天学会单片机_随书光盘文件.rar36. 飞思卡尔单片机高效C语言编程(中文).pdf37. 手机电路原理及检修.pdf38. 单片机与三菱PLC串行通讯的实现.pdf39. 8位单片机的C语言优化技巧.zip40. 51单片机C语言编程入门.rar41. 最全的芯片封装方式(图文对照).rar42. 华为硬件工程师手册.rar43. keilC与汇编的相互调用.pdf44. AVR-GCC学习手记.pdf45. 汉字LED点阵显示16×16点阵(滚动显示).rar46. 电子密码锁.pdf47. 智能家用电热水器控制器.pdf48. 基于单片机控制的电子密码锁.pdf49. STC单片机相关知识.zip50. 40个经典单片机实验.zip51. PICC编程实例详解.zip52. 基于51系列单片机的红外遥控设计.rar53. 单片机串行接口技术研究.zip54. 电子钟完整版.rar55. 汉字点阵滚动指示牌源程序.rar56. LPC11C14 CAN 代码.rar57. 优龙LPC1788开发板资料.rar58. STM32 USB HID.zip59. 51单片机端MODBUSRTU协议.rar60. 51单片机实现MODBUS.rar61. 自制单片机MSP-FET430仿真器.pdf62. PICC编程基础.pdf63. dsPIC对于直流无刷BLDC应用笔记.pdf64. Hi-Tech_PICC_Workshop.pdf65. 蜂鸣器唱歌.rar66. 时钟DS1302(LCD).rar67. 彩屏控制.rar68. 单片机汇编与C语言对照.rar69. 单片机的C语言轻松入门.pdf70. 西门子PPI协议源码.rar71. 430 模拟IIC.docx72. 万能解码.doc73. 汽车防盗器源程序.rar74. C8051F340读写SD卡，带文件系统.rar75. 33个毕业设计方案——单片机类.zip76. 24c02读写程序.zip77. 基于STC89C52单片机电子琴设计.zip78. can通信源码.zip79. 51单片机简单频率计.zip80. CAN通信代码.rar81. STM32 CAN通信例程.zip82. 单总线多点温度测量系统(DS18B20).rar83. C51 程序练习.rar84. 51Modbus源码.zip85. STM32所有外设例子程序（需自己修改）.rar86. 24l01无线模块的C51的发送程序.rar87. LCD1602+89C51+DS18B20数字温度计.rar88. STM32做的自平衡小车.rar89. LPCXpresso1768.zip90. stm32软件串口 io模拟串口.zip91. stm32UART4.rar92. 51单片机实现计算器功能.zip93. 430各模块例程包.rar94. 手操器.rar95. STM32工程模板.rar96. pic软件Modem.zip97. ewavr511b_full+Keygen.rar98. 数字选台收音机.rar99. 多功能时钟.rar100. 超高频RFID模块.pdf
上传时间： 2013-05-15
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家用电器pdb红外线代码库
上传时间： 2013-07-28
上传用户：eeworm
家用电器pdb红外线代码库
上传时间： 2013-06-11
上传用户：eeworm
采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案
上传时间： 2013-08-01
上传用户：wang5829
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-10
上传用户：tdyoung
随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为...
上传时间： 2013-07-08
上传用户：mylinden
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式
上传时间： 2013-05-29
上传用户：6546544
LM3S系列ADC例程：内置的温度传感器
上传时间： 2013-04-24
上传用户：qunquan
