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第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinR

第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinRunner测试系统工具的运用第9章软件测试管理（略） ...

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#WinR #软件测试 #策略 #白盒测试

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第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinR

第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinRunner测试系统工具的运用第9章软件测试管理（略） ...

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#WinR #软件测试 #策略 #白盒测试

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第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinR

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#WinR #软件测试 #策略 #白盒测试

https://www.eeworm.com/dl/684/280458.html 软件设计/软件工程

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#WinR #软件测试 #策略 #白盒测试

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第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinR

第1章软件测试概述第2章软件测试策略与过程第3章黑盒测试及其用例的设计第4章白盒测试及其用例的设计第5章特定环境及应用测试第6章软件自动化测试基础第8章 WinRunner测试系统工具的运用第9章软件测试管理（略） ...

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#WinR #软件测试 #策略 #白盒测试

https://www.eeworm.com/dl/647/283798.html 嵌入式/单片机编程

主要介绍了如何使用E8仿真器在以Renesas芯片为MCU的开发板上进行仿真调试。第1 章概要第2 章 E8 仿真器功能第3 章使用前的准备第4 章调试的准备第5 章调试

主要介绍了如何使用E8仿真器在以Renesas芯片为MCU的开发板上进行仿真调试。第1 章概要第2 章 E8 仿真器功能第3 章使用前的准备第4 章调试的准备第5 章调试第6 章教程示例附录A E8 仿真器的构成附录B 窗口功能一览附录C 命令行功能附录D High-performance Embedded Workshop 的注意事项 ...

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#Renesas #MCU #仿真器 #调试

https://www.eeworm.com/dl/686/286033.html VC书籍

VPP程序设计第1章绪论第2章数据类型和表达式第3章控制语句第4章函数第5章数组第6章指针第7章结构体与共用体第8章类和对象第9章运算符重载

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#VPP #程序设计 #数据类型 #控制

https://www.eeworm.com/dl/641/287376.html 数学计算

PCA算法程序设计步骤： 1、去均值 2、计算协方差矩阵及其特征值和特征向量 3、计算协方差矩阵的特征值大于阈值的个数 4、降序排列特征值 5、去掉较小的特征值 6、去掉较大的特征值(一般

PCA算法程序设计步骤： 1、去均值 2、计算协方差矩阵及其特征值和特征向量 3、计算协方差矩阵的特征值大于阈值的个数 4、降序排列特征值 5、去掉较小的特征值 6、去掉较大的特征值(一般没有这一步） 7、合并选择的特征值 8、选择相应的特征值和特征向量 9、计算白化矩阵 10、提取主分量 ...

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#特征 #PCA #协方差矩阵 #计算

https://www.eeworm.com/dl/648/288412.html 单片机开发

多种规格液晶显示屏的C51控制程序 1、240x128液晶T6963控制器驱动程序 2、1602液晶显示 3、44780字符液晶屏驱动演示程序总线方式 4、M12864汉字液晶显示驱动程序

多种规格液晶显示屏的C51控制程序 1、240x128液晶T6963控制器驱动程序 2、1602液晶显示 3、44780字符液晶屏驱动演示程序总线方式 4、M12864汉字液晶显示驱动程序 5、320x240图形液晶驱动

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#240x128 #M12864 #44780 #T6963

https://www.eeworm.com/dl/648/288435.html 单片机开发

基于Keil uVision2平台的C51控制温度老化试验箱的源代码。 1、温度传感器采集温度 2、传感器信号传入 ADC电路 3、经AT89C52单片机的处理分析输出控制 4、通过继电器控制

基于Keil uVision2平台的C51控制温度老化试验箱的源代码。 1、温度传感器采集温度 2、传感器信号传入 ADC电路 3、经AT89C52单片机的处理分析输出控制 4、通过继电器控制发热、降温与通风单元

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#uVision2 #Keil #C51 #ADC