基于Keil uVision2平台的C51控制温度老化试验箱的源代码。 1、温度传感器采集温度 2、传感器信号传入 ADC电路 3、经AT89C52单片机的处理分析输出控制 4、通过继电器控制 单片机开发 57 K 66 次下载 2013-12-17