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电子工艺,质量及可靠性 电子元器件可靠性和失效分析(共40篇)

电子元器件可靠性和失效分析(共40篇)
https://www.eeworm.com/dianzishu/444/2933.html
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学术论文 功率电源中IGBT失效机理及其检测方法的研究.rar

由于绝缘栅双极晶体管IGBT具有工作频率高、处理功率大和驱动简单等诸多优点,在电力电子设备、尤其是中大型功率的电力电子设备中的应用越来越广泛。但是,IGBT失效引发的设备故障往往会对生产带来巨大影响和损失,因此,对IGBT的失效研究具有十分重要的应用意义。 本文在深入分析IGBT器件工作原理和工作特性的基础上,采用双极传 ...
https://www.eeworm.com/dl/514/8795.html
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技术资料 外部IC连接NRST导致MCU内部复位信号失效的问题

有客户在产品的设计中，使用外部IC 的GPIO 通过连接NRST 引脚来对STM32 MCU 进行复位控制时，会遇到以下问题:IC 可以对MCU 进行复位控制，但是芯片内部的复位信号(如看门狗等)不能对MCU 进行复位，甚至影响引脚功能.
https://www.eeworm.com/dl/830014.html
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技术资料 基于OBD系统的氧传感器失效模拟及试验

摘要：为方便进行OBD氧传感器失效验证，在分析氧传感器常见故障波形的基础上，根据OBD测试试验的要求，提出以数字滤波的方法模拟氧传感器失效波形的试验方法。在Matlab中对劣化算法进行了仿真，依照失效信号特征对比模拟波形和实际劣化波形，验证其可行性。按此算法开发出氧传感器失效模拟器，在ME7电控系统上进行了实车测 ...
https://www.eeworm.com/dl/893058.html
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技术资料 PCB镀金层耐腐蚀性和失效机理浅析

  对于PCB镀金层耐腐蚀性和失效机理浅析 
https://www.eeworm.com/dl/894329.html
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技术资料 铝电解电容器失效模式和原因分析

本资源深入探讨了铝电解电容器常见的失效模式及其背后的原因，是电子工程师在设计和维护电路时不可或缺的参考资料。通过详细分析不同环境条件下电容器可能出现的问题，帮助读者更好地理解如何选择合适的电容参数以延长设备寿命。特别适合从事电源管理、信号处理等领域工作的专业人士阅读。现在即可免费下载完整版文档。 ...
https://www.eeworm.com/dl/991002.html
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技术资料 微电子器件与IC的可靠性与失效分析.

微电子器件与IC的可靠性与失效分析.                          
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技术资料 GBT 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf

资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GBT 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf
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国标 GB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

GB-T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法
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技术书籍 电子元器件失效分析技术与案例-31页-1.3M.pdf

专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子元器件失效分析技术与案例-31页-1.3M.pdf
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