介绍了单片机系统RAM测试的一般方法,并在原有的MARCH-G算法的基础上进行了更深入的研究,提出了一种低功耗的改进方法.
单片机系统RAM的测试方法研究
资料详细技术说明
在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作.为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的.通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题.本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法.
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