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MCS51单片机系统电磁干扰测试研究

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MCS51单片机系统电磁干扰测试研究 - 资源详细说明

为了确定MCS51单片机系统工作模式下的电磁场的时空分布,利用电磁兼容扫描仪对系统进行扫描分析,找出系统三维电磁场辐射图形,从而精确定位辐射干扰源的位置并分析频谱成分.试验结果表明:系统正常工作时MCS51单片机芯片、晶振以及程序存储器是产生干扰频率的主要来源,电磁辐射强度最高可达36 dBμV.

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