测试设计
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查看全部 500 份 →CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合...
2021-10-15
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100G和400G设计测试
在100G测试中，眼图分析、BER轮廓以及复杂调制给技术人员提出新挑战。其中如何分离抖动及噪音、进行相干光学信号分析等成为重点，为此泰科科技提供系列100G测试方案.
2023-02-08
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