扩展相容性多扫描树的设计
针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗...
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