📚 xfem技术资料

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XFEM（扩展有限元法）是一种先进的数值分析技术，专为解决材料非连续性问题而设计，如裂纹扩展、界面脱层等复杂现象。它在电子封装可靠性评估、微机电系统(MEMS)设计及半导体器件失效分析中展现出独特优势。掌握XFEM不仅能够帮助工程师更精确地预测产品寿命与性能极限，还能促进创新解决方案的开发。访问我们的资源库，获取独家XFEM教程与案例研究，加速您的专业成长。