SoC(System On a Chip)又称为片上系统，是指将微处理器、模拟IP核、数字IP核和存储器（或片外存储器接口）集成在单一芯片上。SoC产品不断朝着体积小、功能强的方向发展，芯片内部整合越来越多的功能。ARM架构作为嵌入式系统流行的应用，其应用的扩展面临软件扩充的问题，而X86平台上却有很多软件资源。若将已有的X86软件移植到ARM平台，则可以在一定程度上解决软件扩充的问题。 本论文针对X86指令在ARM中兼容的应用，以智能手机的应用为例，提出了基于ARM嵌入式平台，使用X86指令到ARM指令的二进制翻译模块，达到对X86指令的兼容。主要研究ARM公司的片上总线系统——AMBA AHB和AMBA APB片上总线标准。对Multi-layer总线结构进行研究，分析了Multi-layer AHB系统中使用的Bus Matrix模块的结构，从Bus Matrix模块的内部矩阵结构和系统架构两方面针对系统的特点作出优化。 最后介绍了论文采用的事物级模型与Verilog HDL协同仿真的方法和系统的控制过程，通过仿真结果的比较，验证了利用二进制翻译模块实现X86指令执行的可行性和优化后的架构较适合于X86翻译系统的应用。
上传时间： 2013-06-28
上传用户：钓鳌牧马
如今IC设计进入了SOC(System-on-chip)设计时代。SOC是指在单一芯片上集成了微控制器、数字信号处理器、存储器、I/O接口等，可以实现信号采集、转换、存储、处理等功能的芯片。SOC设计是基于IP可重用性的设计过程。现在已有不少公司成功地开发了各种SOC总线规范，以便于IP核的可复用性设计。其中，ARM公司开发的AMBA(Advanced Microcontroller Bus Arehitecture)规范已经成为嵌入式应用的行业标准。嵌入式SOC芯片广泛应用于消费电子产品中，近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及，液晶电视等平板显示器件的推广，液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCD Driver IC作为液晶显示器的重要部件，需求量也日益增大。嵌入式液晶显示系统的设计是当今SOC设计中不可缺少的部分，而基于AMBA总线规范的LCD显示系统更是具备良好的性能和较大的潜力。 本文提出了一种基于AMBA总线规范的彩色TFT-LCD数字图像显示解决方案，硬件设计上包括APB存储接口模块、LCD控制模块，并用VHDL硬件描述语言进行了功能仿真，采用Mentor公司Modelsim5.8完成了系统功能验证；软件设计上完成了基于SAMSUNG公司S6D0110 TFT-LCD驱动芯片的测试程序的编写和系统测试。本设计不需要掌握TFT-LCD内部构造，复杂的内部驱动原理，只需要掌握AMBA总线规范和LCD的MPU并行接口时序，采用本课题设计出的LCD显示控制模块简单实用，便于推广应用。 本课题基于Xilinx公司的VirtexⅡ FF1152 PROTO开发平台完成了软件调试，实现了TFT-LCD图像显示。调试结果表明硬件和软件设计正确且取得了较为满意的结果。
上传时间： 2013-06-02
上传用户：小枫残月
随着 EDA 技术及微电子技术的飞速发展，现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称 FPGA)的性能有了大幅度的提高，FPGA的设计水平也达到了一个新的高度。基于FPGA的嵌入式系统设计为现代电子产品设计带来了更大的灵活性，以Nios Ⅱ软核处理器为核心的SOPC(System on Programmable Chip)系统便是把嵌入式系统应用在FPGA上的典型例子，本文设计的指纹识别模块就是基于FPGA的Nios Ⅱ处理器为核心的SOPC设计。通过IP核技术和灵活的软硬件编程，实现Nios Ⅱ对FPGA外围器件的控制，并对指纹处理算法进行了改进，研究了指纹识别算法到Nios Ⅱ系统的移植。 本文首先阐述了指纹识别模块的SOPC设计方案，然后是对模块的详细设计。在硬件方面，完成了指纹识别模块的 FPGA 硬件设计，包括 FPGA 内部的Nios Ⅱ系统硬件设计和 FPGA 外围电路设计。前者利用 SOPC Builder将Nios Ⅱ处理器、指纹读取接口 UART、键盘与LCD显示接口、FLASH接口、SDRAM控制器构建成NiosⅡ硬件系统，后者是电源和时钟电路、SDRAM存储器电路、FLASH存储器电路、LCD显示电路、指纹传感器电路、FPGA 配置电路这些纯实物硬件设计，给出了设计方法和电路连接图。 在软件方面，包括下面两个内容： 完成 FPGA 外围器件程序设计，实现对外围器件的操作。 深入的研究了指纹识别算法。对指纹图像识别算法中的指纹图像滤波和匹配算法进行了分析，提出了指纹图像增强改进算法和匹配改进算法，通过试验，改进后的指纹图像滤波算法取得了较好的指纹图像增强效果。改进后的匹配算法速度较快，误识率较低。最后研究了指纹识别算法如何在FPGA中的Nios Ⅱ系统的实现。
上传时间： 2013-06-12
上传用户：yx007699
视频图像处理的应用越来越广泛，各种处理算法也日趋成熟，相关的硬件技术不断地推陈出新。视频图像处理系统的硬件实现一般来说有三种方式：数字信号处理器(Digital Signal Processor)、专用集成芯片(Application Specific Integrated Circuit)和现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array)以及相关电路组成。最近几年，随着电子设计自动化(Electronic Design Automation)技术的迅速发展，使得基于FPGA的可编程片上系统(System On a Programmable Chip)逐渐成为嵌入式系统。应用的一种趋势。特别地，在视频图像处理系统设计中，数据量大，要求处理速度快，灵活性高，FPGA有其独特的优势。鉴于此，本文对基于FPGA和SOPC技术的视频图像处理系统进行了研究。 本文介绍了Xilinx公司FPGA的结构和功能特点，以及可编程片上系统的开发工具和片内系统设计流程。根据视频信号的相关知识，编写了视频图像处理IP核，构建了视频图像处理系统。整个系统以FPGA为核心器件，内嵌PowerPC405处理器模块，通过ⅡC总线完成视频解码芯片的初始化，总体上实现了对视频图像信号的采集、处理、存储和显示。 本文最后对系统进行了调试。经过实验验证，系统能正确和可靠地工作。整个系统的逻辑资源消耗占FPGA的百分之十几，剩余的资源可以做许多硬件算法或其它方面的应用。
上传时间： 2013-05-24
上传用户：kaka
数字运算，判断一个数是否接近素数 A Niven number is a number such that the sum of its digits divides itself. For example, 111 is a Niven number because the sum of its digits is 3, which divides 111. We can also specify a number in another base b, and a number in base b is a Niven number if the sum of its digits divides its value. Given b (2 <= b <= 10) and a number in base b, determine whether it is a Niven number or not. Input Each line of input contains the base b, followed by a string of digits representing a positive integer in that base. There are no leading zeroes. The input is terminated by a line consisting of 0 alone. Output For each case, print "yes" on a line if the given number is a Niven number, and "no" otherwise. Sample Input 10 111 2 110 10 123 6 1000 8 2314 0 Sample Output yes yes no yes no
上传时间： 2015-05-21
上传用户：daguda
The model consists of two systems, a climate control system and an electrical system. This allows for examination of the loading effects of the climate control system on the car s electrical system.
标签： system electrical consists climate
上传时间： 2015-12-24
上传用户：zhengzg
We have a group of N items (represented by integers from 1 to N), and we know that there is some total order defined for these items. You may assume that no two elements will be equal (for all a, b: a<b or b<a). However, it is expensive to compare two items. Your task is to make a number of comparisons, and then output the sorted order. The cost of determining if a < b is given by the bth integer of element a of costs (space delimited), which is the same as the ath integer of element b. Naturally, you will be judged on the total cost of the comparisons you make before outputting the sorted order. If your order is incorrect, you will receive a 0. Otherwise, your score will be opt/cost, where opt is the best cost anyone has achieved and cost is the total cost of the comparisons you make (so your score for a test case will be between 0 and 1). Your score for the problem will simply be the sum of your scores for the individual test cases.
标签： represented integers group items
上传时间： 2016-01-17
上传用户：jeffery
The XML Toolbox converts MATLAB data types (such as double, char, struct, complex, sparse, logical) of any level of nesting to XML format and vice versa. For example, >> project.name = MyProject >> project.id = 1234 >> project.param.a = 3.1415 >> project.param.b = 42 becomes with str=xml_format(project, off ) "<project> <name>MyProject</name> <id>1234</id> <param> <a>3.1415</a> <b>42</b> </param> </project>" On the other hand, if an XML string XStr is given, this can be converted easily to a MATLAB data type or structure V with the command V=xml_parse(XStr).
标签： converts Toolbox complex logical
上传时间： 2016-02-12
上传用户：a673761058
CRC16算法的Java实现，使用方法如下： CRC16 crc16 = new CRC16() byte[] b = new byte[] { // (byte) 0xF0,(byte)0xF0,(byte)0xF0,(byte)0x72 (byte) 0x2C, (byte) 0x00, (byte) 0xFF, (byte) 0xFE, (byte) 0xFE, (byte) 0x04, (byte) 0x00, (byte) 0x00, (byte) 0x00, (byte) 0x00 } for (int k = 0 k < b.length k++) { crc16.update(b[k]) } System.out.println(Integer.toHexString(crc16.getValue())) System.out.println(Integer.toHexString(b.length))
上传时间： 2014-12-20
上传用户：ve3344
数字存储器和混合信号超大规模集成电路 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC（System on a chip）测试。
上传时间： 2013-11-26
上传用户：hullow
