利用过采样技术提高ADC测量分辨率
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。 ...
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。 ...
STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点) ...
Luminary的ADC过采样应用笔记 本文主要介绍一种Luminary单片机高精度低成本AD转换的实现方法,解决在某些要求高精度ADC领域的Luminary应用问题。...
基于HT66Fx0使用ADC所有功能 本范例以HT66F40 为例,连续开启8 个A/D 通道,启动A/D 转换,并将转换结果进行保存,实现多路电压采集功能,并介绍如何用一个内建的1.25V 的参考电压来实现电源电压的采集,以及实现A/D 精确取样。...
作为具有丰富模拟器件设计经验的数据转换器领导企业, NXP半导体公司提供丰富多样的高质量的数据转换解决方案。 在NXP半导体公司的高速模数转换器(ADC)产品中,您可以根据最终应用选择最适合的产品,无论是行业应用产品,还是消费类电子产品。我们提供完整的解决方案以满足快速上市的需求,或者提供专用的产...