multi-CPU技术资料

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获取CPU信息的类，封装比较完善，获取信息比较全面，包括频率，二级缓冲等。...

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可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可...

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