📚 dut技术资料

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DUT（被测设备）是电子测试与测量领域中的核心概念，广泛应用于电路板测试、芯片验证及系统集成等多个环节。掌握DUT相关知识对于提升产品质量、加速研发进程至关重要。本页面汇集了4个精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全面内容，旨在帮助工程师深入了解DUT的设计原则、测试方法及其在实际项目中的最佳实践。无论是初学者还是资深专家，都能在这里找到宝贵的学习资料和技术支持。

🔥 dut热门资料

MEMS传感器的静止带宽测试

对于采用MEMS加速度计和陀螺仪的工业系统而言，优化带宽可能是关键考虑因素。这代表着精度(噪声)与响应时间之间的一种经典权衡。虽然多数MEMS传感器制造商都会给出典型带宽指标，往往还需要验证传感器或整个系统的实际带宽。在确定加速度计和陀螺仪的带宽特性时，一般需要使用振动台或其他机械激励源。要精确...

📅 2013-11-01 👤 王小奇

MEMS 传感器带宽测试

多音频讯号的量测及分析系统--DAQ Card的应用

量测/测试所面临之问题此测试验证上，要使用NI公司之LAB VIEW及DAQ CARD来取代AUDIO PRECISION及其所附软体ATS。首先需克服硬体解析度上的差异，再来是FFT（FAST FOURIER TRANSFORM,快速传立业转换）演算未予的撰写，这将会影响MULTI-TONE讯号...

📅 2013-12-13 👤 longlong12345678

Card DAQ 音频讯号分