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boundary-scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12

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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan ARCHITECTURE的介绍

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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和boundary-scan

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boundary-scan Tutorial

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test for boundary scan and CPLD ics.

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金鹏飞科技-理解边界扫描(boundary scan)JTAG测试.htm

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STM32边界扫描描述文件 (STM32 Boundary Scan Description Language (BSDL) files)

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xapp069 - 使用XC9500 JTAG边界扫描接口

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xapp069 - 使用XC9500 JTAG边界扫描接口

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CPU可测试性设计

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